公开(公告)号：CN118133597A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202311855190.0

申请日：2023-12-29

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 王硕 ,  唐元贵 ,  高启轩 ,  刘星汛 ,  齐万泉 ,  赵镇帅

IPC: G06F30/23 ,  G06F17/13

Abstract: 本发明提供一种芯片校准夹具的阻抗特性仿真分析方法及装置，所述方法包括：通过电磁场仿真的方式，建立测试探头和校准夹具的仿真模型；对所述仿真模型进行有限元分析计算，确定测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素，并根据测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素对芯片校准夹具阻抗特性的影响进行修正，确定探头的校准信息。本发明通过电磁场仿真的方式，建立测试探头和校准夹具的仿真模型并开展有限元分析计算，确定测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素，可并根据测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素对芯片校准夹具阻抗特性的影响进行修正，确定探头的校准信息。

公开(公告)号：CN118130919A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202311855194.9

申请日：2023-12-29

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 王硕 ,  高启轩 ,  纪翔 ,  韩玉峰 ,  齐万泉 ,  赵镇帅

IPC: G01R29/10 ,  G01R31/00 ,  G01S7/40

Abstract: 本发明提供一种基于紧缩场的雷达天线谐波乱真测量方法及装置，方法包括：搭建紧缩场测试暗室，所述紧缩场测试暗室包括：反射面、馈源和馈源转台，利用焦点处高性能馈源照射高精度反射面形成平面波信号，反射面边缘的处理和微波暗室的配合以在空间测试区域创造出一个静区，所述静区用于模拟被测物在无反射的自由空间中的辐射特性；在所述紧缩场测试暗室创造的无反射的自由空间的辐射特性条件下，对待测试的雷达天线进行谐波乱真测量。本发明在紧缩场的测量暗室环境下，利用反馈面形成平面波以等效远场测试条件，有效避免了外场测试条件的复杂电磁环境干扰，使其能够准确的测量由天线端辐射发射出的谐波、乱真干扰信号。