一种模拟电路状态评估方法和装置

    公开(公告)号:CN113970697B

    公开(公告)日:2023-06-13

    申请号:CN202111055075.6

    申请日:2021-09-09

    Abstract: 本发明公开一种模拟电路状态评估方法和装置,解决现有方法和装置无法辨识元件参数的问题。所述方法,包含:向模拟电路注入脉冲信号使得元件参数从标称值开始变化,采集任一元件参数变化时刻的输出响应信号、进行归一化处理,得到该元件对应的归一化响应信号;对每一元件分别建立特征提取模型;将归一化响应信号作为输入与输出参数,构建自编码网络,对特征提取模型进行训练,得到元件特征值;对每一元件构建最大映射关系和最小映射关系;根据所述最大映射关系和最小映射关系、计算每一元件的映射差值,找到最小的映射差值对应的元件,计算元件评估值、与该元件标称值对比,判断模拟电路状态。本发明实现模拟电路状态的准确、快速评估。

    一种模拟电路状态评估方法和装置

    公开(公告)号:CN113970697A

    公开(公告)日:2022-01-25

    申请号:CN202111055075.6

    申请日:2021-09-09

    Abstract: 本发明公开一种模拟电路状态评估方法和装置,解决现有方法和装置无法辨识元件参数的问题。所述方法,包含:向模拟电路注入脉冲信号使得元件参数从标称值开始变化,采集任一元件参数变化时刻的输出响应信号、进行归一化处理,得到该元件对应的归一化响应信号;对每一元件分别建立特征提取模型;将归一化响应信号作为输入与输出参数,构建自编码网络,对特征提取模型进行训练,得到元件特征值;对每一元件构建最大映射关系和最小映射关系;根据所述最大映射关系和最小映射关系、计算每一元件的映射差值,找到最小的映射差值对应的元件,计算元件评估值、与该元件标称值对比,判断模拟电路状态。本发明实现模拟电路状态的准确、快速评估。

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