一种三轴转台与球面扫描装置空间对准的调整系统及方法

    公开(公告)号:CN108196133B

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN201711432099.2

    申请日:2017-12-26

    Abstract: 本发明公开一种三轴转台与球面扫描装置空间对准的调整系统,包括用于固定在所述三轴转台上的正交点标靶工装以及用于固定在球面扫描装置上的激光准直器;其中,所述正交点标靶工装包括圆盘形的标靶,当正交点标靶工装固定在所述三轴转台上时,所述标靶的中心与所述三轴转台的三个轴的交点重合;所述球面扫描装置包括可反复运动的动部件,当所述激光准直器固定在动部件上时,所述激光准直器的激光出射方向与所述动部件的移动平面垂直,本发明可方便、快捷地实现三轴转台与球面扫描装置的空间对准,降低三轴转台与球面扫描装置空间对准的难度。

    用于实验室的升降装置及利用该装置升降测试设备的方法

    公开(公告)号:CN106744498A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201710041103.6

    申请日:2017-01-17

    CPC classification number: B66F7/20

    Abstract: 本发明公开了一种用于实验室的升降装置及利用该装置升降测试设备的方法,升降装置包括升降器和与升降器配合使用的支撑部件;升降器包括基座和套节,基座与套节之间设有液压升降装置;支撑部件包括至少两个呈柱状结构的标准支撑节;套节上对称设有用于与标准支撑节上支撑连接板配合抬升标准支撑节的第一支撑卡块和第二支撑卡块。本发明采用累加或减少具有相同结构的标准支撑节来实现测试设备的平台高度的变化,解决了微波暗室条件下,静区中央高度远高于测试设备中心高度,而暗室不具备吊装作业的相关设备,且暗室因屏蔽门尺寸,地面屏蔽等原因无法进出升降车辆和专业升降设备,进而导致无法顺利使用测试设备进行暗室相关测试的问题。

    一种增加运动行程的机械限位机构和限位方法

    公开(公告)号:CN107654547B

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201710784589.2

    申请日:2017-09-04

    Inventor: 王鲲飞 吴翔 何鑫

    Abstract: 本发明具体涉及一种适用范围广的增加运动行程的机械限位机构和限位方法。弧面撞块和运动撞块在运动部件的带动下运动,初始时阻挡撞块均处于下降状态,弧面撞块先与第一个固定撞块部件的滑竿接触,使第一个固定撞块部件的阻挡撞块升起,然后弧面撞块与第二固定个撞块部件的滑竿接触,第二个固定撞块部件的阻挡撞块升起,运动撞块与第二个固定撞块部件的阻挡撞块接触被限位,运动部件反向运动接触两个固定撞块部件的滑竿后退出限位区域,使两个阻挡撞块恢复下降状态,通过阻挡撞块的升降限制运动部件的运动实现限位;运动部件的运动范围可以相互干涉而不影响,适用范围广泛。

    一种三轴转台与球面扫描装置空间对准的调整系统及方法

    公开(公告)号:CN108196133A

    公开(公告)日:2018-06-22

    申请号:CN201711432099.2

    申请日:2017-12-26

    Abstract: 本发明公开一种三轴转台与球面扫描装置空间对准的调整系统,包括用于固定在所述三轴转台上的正交点标靶工装以及用于固定在球面扫描装置上的激光准直器;其中,所述正交点标靶工装包括圆盘形的标靶,当正交点标靶工装固定在所述三轴转台上时,所述标靶的中心与所述三轴转台的三个轴的交点重合;所述球面扫描装置包括可反复运动的动部件,当所述激光准直器固定在动部件上时,所述激光准直器的激光出射方向与所述动部件的移动平面垂直,本发明可方便、快捷地实现三轴转台与球面扫描装置的空间对准,降低三轴转台与球面扫描装置空间对准的难度。

    一种位置姿态调整机构和天线测试的位置姿态调整方法

    公开(公告)号:CN107632209A

    公开(公告)日:2018-01-26

    申请号:CN201710707588.8

    申请日:2017-08-17

    Inventor: 王鲲飞 吴翔 何鑫

    Abstract: 本申请公开了一种位置姿态调整机构和天线测试的位置姿态调整方法,解决了转台自旋盘中心轴与反射面天线中心轴重合精度的问题。所述机构包括转动部件、平动部件、第一连接结构、第二连接结构、X轴平动装置和Y轴平动装置。所述方法包含以下步骤,调整激光源X轴和Y轴的转动和平动,使激光轨迹范围最小,并以此为基准点;调整天线安装面使基准点落在天线中心位置;安装反射镜,使自旋盘旋转时,激光通过反射镜反射在自旋盘上形成反射轨迹点;调整天线沿X轴和Y轴方向的转动,使自旋盘旋转时,所述反射轨迹范围最小。本发明机构结构简单,体积小,简化安装,方便使用,具有较强的可扩展性,本发明的方法简单方便,通用性强,应用范围广泛。

    一种位置姿态调整机构和天线测试的位置姿态调整方法

    公开(公告)号:CN107632209B

    公开(公告)日:2020-05-29

    申请号:CN201710707588.8

    申请日:2017-08-17

    Inventor: 王鲲飞 吴翔 何鑫

    Abstract: 本申请公开了一种位置姿态调整机构和天线测试的位置姿态调整方法,解决了转台自旋盘中心轴与反射面天线中心轴重合精度的问题。所述机构包括转动部件、平动部件、第一连接结构、第二连接结构、X轴平动装置和Y轴平动装置。所述方法包含以下步骤,调整激光源X轴和Y轴的转动和平动,使激光轨迹范围最小,并以此为基准点;调整天线安装面使基准点落在天线中心位置;安装反射镜,使自旋盘旋转时,激光通过反射镜反射在自旋盘上形成反射轨迹点;调整天线沿X轴和Y轴方向的转动,使自旋盘旋转时,所述反射轨迹范围最小。本发明机构结构简单,体积小,简化安装,方便使用,具有较强的可扩展性,本发明的方法简单方便,通用性强,应用范围广泛。

    用于实验室的升降装置及利用该装置升降测试设备的方法

    公开(公告)号:CN106744498B

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201710041103.6

    申请日:2017-01-17

    Abstract: 本发明公开了一种用于实验室的升降装置及利用该装置升降测试设备的方法,升降装置包括升降器和与升降器配合使用的支撑部件;升降器包括基座和套节,基座与套节之间设有液压升降装置;支撑部件包括至少两个呈柱状结构的标准支撑节;套节上对称设有用于与标准支撑节上支撑连接板配合抬升标准支撑节的第一支撑卡块和第二支撑卡块。本发明采用累加或减少具有相同结构的标准支撑节来实现测试设备的平台高度的变化,解决了微波暗室条件下,静区中央高度远高于测试设备中心高度,而暗室不具备吊装作业的相关设备,且暗室因屏蔽门尺寸,地面屏蔽等原因无法进出升降车辆和专业升降设备,进而导致无法顺利使用测试设备进行暗室相关测试的问题。

    一种增加运动行程的机械限位机构和限位方法

    公开(公告)号:CN107654547A

    公开(公告)日:2018-02-02

    申请号:CN201710784589.2

    申请日:2017-09-04

    Inventor: 王鲲飞 吴翔 何鑫

    CPC classification number: F16D71/00

    Abstract: 本发明具体涉及一种适用范围广的增加运动行程的机械限位机构和限位方法。弧面撞块和运动撞块在运动部件的带动下运动,初始时阻挡撞块均处于下降状态,弧面撞块先与第一个固定撞块部件的滑杆接触,使第一个固定撞块部件的阻挡撞块升起,然后弧面撞块与第二固定个撞块部件的滑杆接触,第二个固定撞块部件的阻挡撞块升起,运动撞块与第二个固定撞块部件的阻挡撞块接触被限位,运动部件反向运动接触两个固定撞块部件的滑杆后退出限位区域,使两个阻挡撞块恢复下降状态,通过阻挡撞块的升降限制运动部件的运动实现限位;运动部件的运动范围可以相互干涉而不影响,适用范围广泛。

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