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公开(公告)号:CN106841824B
公开(公告)日:2020-04-28
申请号:CN201611161106.5
申请日:2016-12-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开一种信号源综合参数现场测量装置,包括:射频前端模块、频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块、频谱纯度测量模块和显示控制模块;射频前端模块的输入端作为信号源综合参数现场测量装置的待测信号输入端,射频前端模块的输出端分别连接频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输入端,频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输出端均连接显示控制模块的输入端。本发明可实现对信号源各项技术指标的测量。
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公开(公告)号:CN106841824A
公开(公告)日:2017-06-13
申请号:CN201611161106.5
申请日:2016-12-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开一种信号源综合参数现场测量装置,包括:射频前端模块、频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块、频谱纯度测量模块和显示控制模块;射频前端模块的输入端作为信号源综合参数现场测量装置的待测信号输入端,射频前端模块的输出端分别连接频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输入端,频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输出端均连接显示控制模块的输入端。本发明可实现对信号源各项技术指标的测量。
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