基于冗余结构的控制系统的拒动测试方法和装置

    公开(公告)号:CN106528401A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201610862319.4

    申请日:2016-09-28

    Abstract: 本发明涉及工业计算机控制的技术领域,提供一种基于冗余结构的控制系统的拒动测试方法和装置;所述测试方法包括:确定所述控制系统冗余结构的冗余部分的数量N和所述控制系统可被触发整体动作需要输出最低冗余部分数量M;确定所述控制系统拒动概率通过指标P,并根据所述指标P,获取所述控制系统中每个冗余部分需要满足的拒动概率通过指标p;根据所述指标p,获取需要试验的最少次数n;向所述控制系统中的一个冗余部分进行测试,如果所述被测试的冗余部分在连续n次测试后,都没有发生拒动,则判定所述控制系统的拒动概率能满足指标P的要求;因此,可以缩短测试时间,提高测试结果可信度,并且简化测试过程。

    一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法

    公开(公告)号:CN103559412B

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201310573294.2

    申请日:2013-11-13

    Abstract: 本发明公开一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法,将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合,以得到N个通道中N‑M+1个通道失效的系统失效组合,其中,假设每个通道的失效率λ相同,针对安全系统的定期试验周期为T,定期试验带来的风险降低为Q,利用上述设定通过对通道的组合方式分析得到的结果,与T进行比较,当两者接近时即可得到待测系统的定期试验周期。本发明根据通用可靠性理论和核电中关于定期试验周期的计算方法,解决了在不同的试验策略下,不同的符合逻辑情况下的通用逻辑符合结构进行初始试验周期的确定方法,本发明思路方法明确,公式统一,能够适用于所有的逻辑结构。

    一种逻辑退化处理方法及系统
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118606740A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410308087.2

    申请日:2024-03-18

    Abstract: 本申请公开了一种逻辑退化处理方法及系统,通过采集通道获取传感器信号,对传感器信号进行阈值比较处理,得到阈值结果信号,对传感器信号和采集通道的采集通道电路进行检测诊断,得到诊断信号,若诊断信号符合故障条件,生成前端故障信号和采集通道故障信号,根据前端故障信号和采集通道故障信号,生成通道有效信号,对通道有效信号和阈值结果信号进行隔离,并在逻辑序列内将隔离后的通道有效信号和阈值结果信号进行逻辑退化,对逻辑退化后的信号进行与逻辑并输出。

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