抗冲击抗震结构
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112833126B

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN201911157403.6

    申请日:2019-11-22

    Abstract: 本发明提供了一种抗冲击抗震结构,涉及电器设备安装结构领域。该抗冲击抗震结构用于电器设备,所述电器设备底部通过多个底部隔振器安装在基底上,包括多个横向排布的上部隔振器,所述电器设备的后壁的上部通过多个所述上部隔振器与后支撑连接;两端的两个所述上部隔振器的外端与固定件可拆卸连接;还包括两个固定连接件;两个所述固定连接件的一端与所述电器设备的上部可拆卸固定,两个所述固定连接件的另一端用于与后支撑可拆卸连接。本发明解决了现有技术只能实现抗冲击、抗震两项功能中的一项,无法满足两功能的相互转换要求。

    一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法

    公开(公告)号:CN103559412B

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201310573294.2

    申请日:2013-11-13

    Abstract: 本发明公开一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法,将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合,以得到N个通道中N‑M+1个通道失效的系统失效组合,其中,假设每个通道的失效率λ相同,针对安全系统的定期试验周期为T,定期试验带来的风险降低为Q,利用上述设定通过对通道的组合方式分析得到的结果,与T进行比较,当两者接近时即可得到待测系统的定期试验周期。本发明根据通用可靠性理论和核电中关于定期试验周期的计算方法,解决了在不同的试验策略下,不同的符合逻辑情况下的通用逻辑符合结构进行初始试验周期的确定方法,本发明思路方法明确,公式统一,能够适用于所有的逻辑结构。

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