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公开(公告)号：CN112782122A
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201911064950.X
申请日：2019-11-04
Applicant: 北京大学
IPC: G01N21/47
Abstract: 本发明提供了一种测量一维材料手性的装置及方法，所述装置及方法利用周期性交替变化的左右旋圆偏光激发一维材料的瑞利散射信号，通过测量样品在左旋圆偏振光与右旋圆偏振光激发下的瑞利散射光信号强度之差及强度之和，两者相比得到瑞利圆二色性谱。通过瑞利圆二色性谱中特定共振峰的符号，进而判定出单个一维材料的手性。所述装置及方法基于暗场无背景光的瑞利散射技术，首次实现了单个一维材料瑞利圆二色性谱的测量，成功的应用于单个一维材料的手性鉴别。
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公开(公告)号：CN108982374A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810676430.3
申请日：2018-06-27
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供了一种测量一维材料复极化率的装置及方法。所述方法分别利用左-(右-)旋椭圆偏振光与一维材料散射光的干涉，在两组结果中复极化率实部(虚部)贡献相反(相同)，从而定量测量一维材料的复极化率。所述装置包括光源、第一偏振片、1/4波片、第一保偏镜头、被测一维材料样品、第二保偏镜头、第二偏振片和光谱仪。或者，所述装置包括光源、第一偏振片、1/4波片、分光镜、保偏镜头、被测一维材料样品、第二偏振片、反射镜和光谱仪。本发明首次实现了对一维材料复极化率的测量，具有测量速度快、测量频带广(1.6eV-2.7eV)、不破坏被测样品、操作简单、设备易得等特点。
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公开(公告)号：CN112782122B
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN201911064950.X
申请日：2019-11-04
Applicant: 北京大学
IPC: G01N21/47
Abstract: 本发明提供了一种测量一维材料手性的装置及方法，所述装置及方法利用周期性交替变化的左右旋圆偏光激发一维材料的瑞利散射信号，通过测量样品在左旋圆偏振光与右旋圆偏振光激发下的瑞利散射光信号强度之差及强度之和，两者相比得到瑞利圆二色性谱。通过瑞利圆二色性谱中特定共振峰的符号，进而判定出单个一维材料的手性。所述装置及方法基于暗场无背景光的瑞利散射技术，首次实现了单个一维材料瑞利圆二色性谱的测量，成功的应用于单个一维材料的手性鉴别。
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公开(公告)号：CN108982374B
公开(公告)日：2020-05-05
申请号：CN201810676430.3
申请日：2018-06-27
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供了一种测量一维材料复极化率的装置及方法。所述方法分别利用左‑(右‑)旋椭圆偏振光与一维材料散射光的干涉，在两组结果中复极化率实部(虚部)贡献相反(相同)，从而定量测量一维材料的复极化率。所述装置包括光源、第一偏振片、1/4波片、第一保偏镜头、被测一维材料样品、第二保偏镜头、第二偏振片和光谱仪。或者，所述装置包括光源、第一偏振片、1/4波片、分光镜、保偏镜头、被测一维材料样品、第二偏振片、反射镜和光谱仪。本发明首次实现了对一维材料复极化率的测量，具有测量速度快、测量频带广(1.6eV‑2.7eV)、不破坏被测样品、操作简单、设备易得等特点。
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