公开(公告)号：CN112782122A

公开(公告)日：2021-05-11

申请号：CN201911064950.X

申请日：2019-11-04

Applicant: 北京大学

Inventor： 刘开辉 ,  姚凤蕊 ,  苏英泽 ,  马赫

IPC: G01N21/47

Abstract: 本发明提供了一种测量一维材料手性的装置及方法，所述装置及方法利用周期性交替变化的左右旋圆偏光激发一维材料的瑞利散射信号，通过测量样品在左旋圆偏振光与右旋圆偏振光激发下的瑞利散射光信号强度之差及强度之和，两者相比得到瑞利圆二色性谱。通过瑞利圆二色性谱中特定共振峰的符号，进而判定出单个一维材料的手性。所述装置及方法基于暗场无背景光的瑞利散射技术，首次实现了单个一维材料瑞利圆二色性谱的测量，成功的应用于单个一维材料的手性鉴别。

公开(公告)号：CN112782122B

公开(公告)日：2022-03-11

申请号：CN201911064950.X

申请日：2019-11-04

Applicant: 北京大学

Inventor： 刘开辉 ,  姚凤蕊 ,  苏英泽 ,  马赫

IPC: G01N21/47

Abstract: 本发明提供了一种测量一维材料手性的装置及方法，所述装置及方法利用周期性交替变化的左右旋圆偏光激发一维材料的瑞利散射信号，通过测量样品在左旋圆偏振光与右旋圆偏振光激发下的瑞利散射光信号强度之差及强度之和，两者相比得到瑞利圆二色性谱。通过瑞利圆二色性谱中特定共振峰的符号，进而判定出单个一维材料的手性。所述装置及方法基于暗场无背景光的瑞利散射技术，首次实现了单个一维材料瑞利圆二色性谱的测量，成功的应用于单个一维材料的手性鉴别。