公开(公告)号：CN108630283A

公开(公告)日：2018-10-09

申请号：CN201710165743.8

申请日：2017-03-20

Applicant: 北京同方微电子有限公司

Inventor： 董宇 ,  季雨 ,  张章 ,  乔瑛

IPC: G11C29/12 ,  G11C29/18 ,  G11C29/44

CPC classification number: G11C29/44 ,  G11C29/12 ,  G11C29/18

Abstract: 本发明公开了一种自动记录存储器冗余页错误地址的测试装置，包括地址加密单元、硬件校验单元、冗余页替换控制单元和存储器，其中，地址加密单元用于对测试操作地址进行加密处理；硬件校验单元对存储器的物理空间进行功能校验，生成校验错误信号；冗余页替换控制单元内含冗余页替换记录寄存器，将校验出错的存储器坏页物理地址标记为错误地址，存入冗余页替换记录寄存器；存储器访问到存储器的坏页时，冗余页替换控制单元自动识别已经保存的错误地址，并自动使用存储器的冗余页替换存储器的坏页，完成冗余页替换。本发明基于安全存储器，采用硬件自动记录冗余替换页地址的方法，硬件实现要比软件程序扫描省时，具有高效、适用范围广等特点。

公开(公告)号：CN105891695A

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201410189178.5

申请日：2014-05-07

Applicant: 北京同方微电子有限公司

Inventor： 白天宇 ,  乔瑛 ,  赵宇宁 ,  冯俊杰 ,  张章 ,  董宇 ,  李慧

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种基于单IO的IC卡并行测试方法，涉及IC卡技术领域。本发明使用测试机对待测IC卡上的芯片进行并行测试。所述并行测试方法包括卡片接收命令方法和卡片发送数据方法，采用内部时钟采样命令IO，每bit对齐收发命令。其中卡片接收命令的方法步骤为：1）使用一个外部时钟周期的低电平作为起始标志；2）待测IC卡使用内部时钟采样命令IO对高低电平的长度进行采样计数；3）待测IC卡对每一组高低电平的计数进行判断；4）命令bit0~bit2传送命令类型，即确定了该命令的长度，待测IC卡顺序采样，收够指定长度的数据后，即跳出接收命令的循环。本发明采用内部时钟采样命令IO，每bit对齐进行命令收发，减少了时钟IO，增加同测卡片数量，有效减少测试成本。

公开(公告)号：CN206353315U

公开(公告)日：2017-07-25

申请号：CN201621425009.8

申请日：2016-12-23

Applicant: 北京同方微电子有限公司

Inventor： 董宇 ,  乔瑛 ,  季雨 ,  侯书珺 ,  张章 ,  许秋林

IPC: G06K7/00 ,  G06K19/07

Abstract: 本实用新型提供了一种自动检测芯片上电并发送3B指令信号的电路，所述电路包括电源识别单元、上升沿检测单元和通用异步收发传输器，通用异步收发传输器包括计数器和移位寄存器；智能卡芯片上电后，自电源VCC为高电压开始，上升沿检测单元检测到复位信号端口RST信号产生上升沿时，产生复位使能信号，复位使能信号有效且计数器自动计数到400个时钟信号后，移位寄存器自动向输入输出端口I/O串行发送3B指令信号，使得智能卡的卡机接收卡片上电复位应答，这实现了智能卡卡片多接口同时工作的功能，大大提高了卡机的应答速度，缩短了等待时间，从而使卡片的工作效率得到提升。

公开(公告)号：CN206353192U

公开(公告)日：2017-07-25

申请号：CN201621306544.1

申请日：2016-12-01

Applicant: 北京同方微电子有限公司

Inventor： 乔瑛 ,  张章 ,  丁义民 ,  董宇 ,  侯书珺 ,  郭耀华 ,  王清智 ,  许秋林

IPC: G01R31/28 ,  G11C29/12

Abstract: 本实用新型提供一种用于芯片测试的安全电路。所述安全电路包括内部逻辑电路和熔丝电路，内部逻辑电路连接熔丝电路，熔丝电路为一弱上拉电阻，熔丝电路的输出端连接到外部晶圆划片槽的地线；芯片测试时，熔丝电路输出的电熔丝信号送到内部逻辑电路，内部逻辑电路根据电熔丝信号的电平进行判断，如果电熔丝信号为低电平，则允许芯片进入测试模式；如果电熔丝信号为高电平，则不允许芯片进入测试模式。本实用新型由于采用了弱上拉电阻的熔丝电路进行芯片测试，使得芯片出厂测试时能进入测试模式，芯片测试完毕后交付给用户前，能够有效封锁测试模式，以确保用户的NVM中数据不被误改，提高用户数据安全性。