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发明公开
射频控制芯片的测试电路及其测试方法审中-实审

公开(公告)号：CN119310438A

公开(公告)日：2025-01-14

申请号：CN202411619761.5

申请日：2024-11-13

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 刘伟 , 张景鹏 , 张楠

IPC: G01R31/28

Abstract: 本申请提供一种射频控制芯片的测试电路及其测试方法。测试电路包括射频信号发射电路和数字信号处理电路。数字信号处理电路用于向射频信号发射电路输入控制信号，且用于向待测的射频控制芯片提供时钟信号，时钟信号与控制信号为同步信号；射频信号发射电路用于根据控制信号产生射频载波信号，对射频载波信号进行整形，并向待测的射频控制芯片发射测试信号，以对待测的射频控制芯片进行测试；数字信号处理电路还用于接收待测的射频控制芯片输出的处理信号，对处理信号进行采样并分析，确定待测的射频控制芯片的测试结果。本申请能实现自动化测试，快速准确地将存在缺陷的射频控制芯片筛选出来。

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