一种恒温腔
    2.
    发明公开
    一种恒温腔 审中-实审

    公开(公告)号:CN116448280A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202310271434.4

    申请日:2023-03-20

    Abstract: 本发明涉及一种恒温腔,包括:外部保护层(9)、中间隔热层(10)、内部恒温层(15)、压力控制管(7)和波纹管(8),外部保护层(9)和中间隔热层(10)采用上下两段式封闭结构,外部保护层(9)为双层结构;内部恒温层(15)设置于中间隔热层(10)内的底部,中间隔热层(10)设置于外部保护层(9)内;压力控制管(7)设置于外部保护层(9)的上部;波纹管依次连接压力控制管、中间隔热层和内部恒温层;外部保护层的双层结构内、外部保护层和中间隔热层之间以及中间隔热层和内部恒温层之间均抽为真空,工作时内部恒温层内注入氦气。该恒温腔可以减小内外热辐射和上下温度梯度,抑制温度波动,提升温度均匀性。

    基于接触法的等离子体离子能量测量装置

    公开(公告)号:CN117794038A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202410128411.2

    申请日:2024-01-30

    Abstract: 本发明涉及一种基于接触法的等离子体离子能量测量装置,包括壳体和支撑座,壳体内部设有前后两端敞口的筒状内腔,筒状内腔内设有屏蔽罩层和收集极以及在屏蔽罩层和收集极之间设有若干交叠设置的绝缘隔离板和栅网;屏蔽罩层上离子体进入孔与绝缘隔离板上绝缘通孔连通形成离子体阻滞腔,收集极上设有与离子体阻滞腔连通的第一通气孔;支撑座上设有接线孔,接线孔内设有电缆接头座,电缆接头座上设有与第一通气孔连通的第二通气孔。本发明,通过第一通气孔和第二通气孔将多余工质气体排出,避免离子体阻滞腔内压力过高影响收集极采集结果的准确性。

    一种等离子体温度密度光学测试校准装置及校准方法

    公开(公告)号:CN118102567A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410357581.8

    申请日:2024-03-27

    Abstract: 本发明提出了一种等离子体温度密度光学测试校准装置及校准方法,属于航天等离子体光学测试校准领域,包括校准装置包括光谱仪、光学探头和ECR等离子体源,ECR等离子体源包括微波源、微波传输系统、微波反应腔和等离子体负载,微波传输系统包括三销钉调配器和三端环形器,三端环形器的一端与微波源相连,另一端与三销钉调配器相连,三端环形器侧面与等离子体负载相连,三销钉调配器与等离子体放电室相连,等离子体放电室上设置有进气口,等离子体放电室与第一真空罐连接,光学探头设置在第一真空罐或第二真空罐内,光学探头与光谱仪相连;本发明的等离子体温度密度光学测试校准解决了等离子体温度密度难以测量校准的问题。

    一种等离子体温度密度光学测试校准装置及校准方法

    公开(公告)号:CN118102567B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410357581.8

    申请日:2024-03-27

    Abstract: 本发明提出了一种等离子体温度密度光学测试校准装置及校准方法,属于航天等离子体光学测试校准领域,包括校准装置包括光谱仪、光学探头和ECR等离子体源,ECR等离子体源包括微波源、微波传输系统、微波反应腔和等离子体负载,微波传输系统包括三销钉调配器和三端环形器,三端环形器的一端与微波源相连,另一端与三销钉调配器相连,三端环形器侧面与等离子体负载相连,三销钉调配器与等离子体放电室相连,等离子体放电室上设置有进气口,等离子体放电室与第一真空罐连接,光学探头设置在第一真空罐或第二真空罐内,光学探头与光谱仪相连;本发明的等离子体温度密度光学测试校准解决了等离子体温度密度难以测量校准的问题。

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