基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法

    公开(公告)号:CN118829059A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410877286.5

    申请日:2024-07-02

    Abstract: 本发明为等离子体探针校准领域,提供基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法。测量探针阵列的表面温度,使用探针阵列测量稳定运行的霍尔推进器的羽流参数,得到此时探针阵列收集到的伏安特性曲线。再使用红外成像仪测量探针阵列的表面温度,得到探针受轰击加热的温度差。结合探针表面的二次电子发射系数,便计算出二次电流值。结合探针本身测量得到的离子电流值,对电子电流值进行修正,得到真实的伏安特性曲线,计算出准确的电子温度密度。使用光谱仪通过光谱测量此时的电子温度电子密度,与修改后的探针测量的电子温度电子密度进行对比,实现对等离子体探针阵列进行校准。用以解决探针测量结果缺乏校准,准确度难以评定的问题。

    一种等离子体温度密度光学测试校准装置及校准方法

    公开(公告)号:CN118102567A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410357581.8

    申请日:2024-03-27

    Abstract: 本发明提出了一种等离子体温度密度光学测试校准装置及校准方法,属于航天等离子体光学测试校准领域,包括校准装置包括光谱仪、光学探头和ECR等离子体源,ECR等离子体源包括微波源、微波传输系统、微波反应腔和等离子体负载,微波传输系统包括三销钉调配器和三端环形器,三端环形器的一端与微波源相连,另一端与三销钉调配器相连,三端环形器侧面与等离子体负载相连,三销钉调配器与等离子体放电室相连,等离子体放电室上设置有进气口,等离子体放电室与第一真空罐连接,光学探头设置在第一真空罐或第二真空罐内,光学探头与光谱仪相连;本发明的等离子体温度密度光学测试校准解决了等离子体温度密度难以测量校准的问题。

    一种等离子体侵蚀痕量产物在线监测装置及方法

    公开(公告)号:CN117420083B

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202311743392.6

    申请日:2023-12-19

    Abstract: 一种等离子体侵蚀痕量产物在线监测装置及方法,涉及等离子体光谱测试技术领域,解决的技术问题为“如何进行等离子体推进器工部件侵蚀痕量产物监测”,该装置包括金属屏蔽罩,以及设置于所述金属屏蔽罩内部的第一凸透镜、第一反射镜、分光棱镜、第二凸透镜、光栅以及第二反射镜,以及设置于所述金属屏蔽罩外部的光电倍增管和分析处理设备;所述金属屏蔽罩侧壁上固定有入射光狭缝和出射光狭缝,所述出射光狭缝与所述光电倍增管连接,所述光电倍增管与所述分析处理设备连接;该装置及方法设计了光谱仪设备对痕量产物谱线光强进行监测,建立痕量物质辐射谱线强度和光强信号波动关系,以获得痕量产物绝对密度,可靠性高,监测灵敏。

    等离子体推进器远场羽流离子通量监测装置及方法

    公开(公告)号:CN118678524A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410877288.4

    申请日:2024-07-02

    Abstract: 等离子体推进器远场羽流离子通量监测装置及方法,涉及电推进系统技术领域。解决目前对于羽流轰击离子通量分布的测量手段的不足,严重影响了电推进寿命的评估与应用的问题。装置包括:霍尔推进器、阻滞势分析仪RPA、热电偶、滑动轨道、石英窗口、红外热像仪、太阳能板和真空罐;霍尔推进器、阻滞势分析仪RPA、热电偶、滑动轨道和太阳能板位于真空罐内部;霍尔推进器的羽流方向处设置太阳能板,热电偶一端紧贴太阳能板,热电偶另一端安装在滑动轨道上;太阳能板与霍尔推进器设有阻滞势分析仪RPA;真空罐外部设有红外热像仪,石英窗口固定在真空罐外部,红外热像仪与石英窗口位于同一水平线上。应用于电推进系统寿命评估领域。

    霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置

    公开(公告)号:CN118443162B

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410923850.2

    申请日:2024-07-11

    Abstract: 霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置,涉及航天器设备监测技术领域。为解决现有技术中存在的,现有的实时监测霍尔推力器通道壁面侵蚀的方法,只能间接监测通道壁面的侵蚀情况,无法直接观测到壁面的沉积状态的技术问题,本发明提供的技术方案为:方法包括:采集霍尔推力器通道壁面的图像信息的步骤;得到图像信息中各个预设点的温度的步骤;根据各个预设点的温度,得到霍尔推力器通道壁面的热辐射功率的步骤;采集霍尔推力器通道壁面的热传导功率的步骤;根据霍尔推力器通道壁面的热辐射功率和热传导功率,得到霍尔推力器通道壁面因沉积获得的热量的功率的步骤。可以应用于监测霍尔推力器通道壁面的沉积状态。

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