一种星载设备的测试系统及方法

    公开(公告)号:CN105510736B

    公开(公告)日:2019-03-12

    申请号:CN201510845838.5

    申请日:2015-11-26

    Abstract: 一种星载设备的测试系统及方法,包括:星载设备(1)、开关矩阵(2)、及测量端(3),其特征在于:开关矩阵(2)为由N路输入和M路输出组成全接点开关矩阵,具有N个输入端和M个输出端,星载设备(1)上设有与开关矩阵的每一路输入端连接的多个端口,在开关矩阵(2)的每一个回路上有两个继电器开关G、F,继电器G控制输入通路的接通和断开,继电器F控制输出通路的接通和断开,开关矩阵的M个输出分别连接一路共地信号端及M‑1路输出端接示波器测量信号,且该M‑1路输出的后面接第二级开关,对进行测量的类型进行,这样M‑1个通路可以同时并行进行信号检测工作。

    一种星载设备的测试系统及方法

    公开(公告)号:CN105510736A

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201510845838.5

    申请日:2015-11-26

    CPC classification number: G01R31/00

    Abstract: 一种星载设备的测试系统及方法,包括:星载设备(1)、开关矩阵(2)、及测量端(3),其特征在于:开关矩阵(2)为由N路输入和M路输出组成全接点开关矩阵,具有N个输入端和M个输出端,星载设备(1)上设有与开关矩阵的每一路输入端连接的多个端口,在开关矩阵(2)的每一个回路上有两个继电器开关G、F,继电器G控制输入通路的接通和断开,继电器F控制输出通路的接通和断开,开关矩阵的M个输出分别连接一路共地信号端及M-1路输出端接示波器测量信号,且该M-1路输出的后面接第二级开关,对进行测量的类型进行,这样M-1个通路可以同时并行进行信号检测工作。

Patent Agency Ranking