单晶制造装置及单晶制造方法

    公开(公告)号:CN103370451B

    公开(公告)日:2016-04-27

    申请号:CN201280007837.8

    申请日:2012-01-05

    CPC classification number: C30B15/10 C30B15/00 C30B15/30 C30B29/06 Y10T117/1072

    Abstract: 本发明是一种单晶制造装置,其是利用CZ法的单晶制造装置,其具备:坩埚,该坩埚用以保持原料熔液;可升降的支架,该可升降的支架支持该坩埚;坩埚旋转轴,该坩埚旋转轴经由该支架使前述坩埚旋转;及,漏液盛接容器,该漏液盛接容器配置于前述坩埚的下方,并以围绕前述支架的方式设置有中心套筒,其特征在于,在前述支架的外周部上设置有2个以上的槽,以抑制从前述坩埚中泄漏出来的前述原料熔液滴落。由此,本发明提供一种单晶制造装置及单晶制造方法,即使在因意外事故等导致坩埚内的原料熔液流出至坩埚外,并沿着支架流下来的情况下,仍然可以确实地防止熔液到达支架下方的金属部,并将装置损坏和事故发生防患于未然。

    单晶制造装置及单晶制造方法

    公开(公告)号:CN103370451A

    公开(公告)日:2013-10-23

    申请号:CN201280007837.8

    申请日:2012-01-05

    CPC classification number: C30B15/10 C30B15/00 C30B15/30 C30B29/06 Y10T117/1072

    Abstract: 本发明是一种单晶制造装置,其是利用CZ法的单晶制造装置,其具备:坩埚,该坩埚用以保持原料熔液;可升降的支架,该可升降的支架支持该坩埚;坩埚旋转轴,该坩埚旋转轴经由该支架使前述坩埚旋转;及,漏液盛接容器,该漏液盛接容器配置于前述坩埚的下方,并以围绕前述支架的方式设置有中心套筒,其特征在于,在前述支架的外周部上设置有2个以上的槽,以抑制从前述坩埚中泄漏出来的前述原料熔液滴落。由此,本发明提供一种单晶制造装置及单晶制造方法,即使在因意外事故等导致坩埚内的原料熔液流出至坩埚外,并沿着支架流下来的情况下,仍然可以确实地防止熔液到达支架下方的金属部,并将装置损坏和事故发生防患于未然。

Patent Agency Ranking