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公开(公告)号：CN102608647A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201210005600.8
申请日：2012-01-10
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2002 , G01T1/2018 , H01L27/14661 , H01L27/14663 , H01L31/02322
Abstract: 本发明涉及辐射成像设备、辐射成像系统和制造辐射成像设备的方法。该辐射成像设备包括：衬底、至少一个成像元件、闪烁体、将衬底固定于成像元件的第一加热能剥离的粘合部件以及将成像元件固定于闪烁体的第二加热能剥离的粘合部件。所述第一加热能剥离的部件的粘合强度通过加热而降低。第一加热能剥离的粘合部件的粘合强度降低时的温度基本上等于第二加热能剥离的粘合部件的粘合强度降低时的温度。所述衬底的每单位时间的传热量与所述闪烁体的每单位时间的传热量不同。
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公开(公告)号：CN102654583A
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201210052458.2
申请日：2012-03-02
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2018
Abstract: 本发明涉及放射线检测装置及其制造方法、以及放射线检测系统。一种放射线检测装置包括：具有将放射线转换成光的闪烁体层和保护闪烁体层的闪烁体保护层的闪烁体面板；和具有其中布置有检测来自闪烁体层的光的多个光电转换器的传感器阵列和保护传感器阵列的传感器保护层的传感器面板。通过使用闪烁体保护层作为粘接剂材料使闪烁体层与传感器保护层粘接，使闪烁体面板与传感器面板接合。闪烁体保护层的主要成分与传感器保护层的主要成分相同。
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公开(公告)号：CN102299161A
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN201110166963.5
申请日：2011-06-21
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H01L27/146 , G01T1/20 , A61B6/00
CPC classification number: A61B6/4208 , A61B6/563 , G01T1/2018 , H01L27/14663 , H01L31/0203 , H01L31/115
Abstract: 本发明涉及放射线检测装置和放射线成像系统，该放射线检测装置包括半导体基板，每一半导体基板具有第一表面和与第一表面相对的第二表面，光电转换部被形成在第一表面上；闪烁体层，被放置在所述多个半导体基板的第一表面之上，用于将放射线转换为光；以及弹性部件，放置在基体和该第二表面之间，用于支撑该半导体基板的第二表面，从而所述半导体基板的第一表面彼此平齐。当作为单体测量所述弹性部件时，立方体被检查物在被在垂直于第一表面的方向上压缩时在平行于第一表面的方向上的拉伸量小于被检查物在被在平行于第一表面的方向上压缩时在垂直于第一表面的方向上的拉伸量。
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公开(公告)号：CN102551754B
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201110356440.7
申请日：2011-11-11
Applicant: 佳能株式会社
IPC: A61B6/00
CPC classification number: G01T1/202
Abstract: 本发明涉及闪烁体、放射线检测装置和放射线成像装置。闪烁体包括将放射线转换为光的闪烁体层，闪烁体层具有形成闪烁体层的轮廓的一部分的第一端部和形成该轮廓的另一部分的第二端部，其中，当从闪烁体层的中心观看时，第一端部和第二端部位于闪烁体层的相对侧，其中，从放射线转换为光的效率从第一端部向第二端部降低。
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公开(公告)号：CN102299161B
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201110166963.5
申请日：2011-06-21
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H01L27/146 , G01T1/20 , A61B6/00
CPC classification number: A61B6/4208 , A61B6/563 , G01T1/2018 , H01L27/14663 , H01L31/0203 , H01L31/115
Abstract: 本发明涉及放射线检测装置和放射线成像系统，该放射线检测装置包括半导体基板，每一半导体基板具有第一表面和与第一表面相对的第二表面，光电转换部被形成在第一表面上；闪烁体层，被放置在所述多个半导体基板的第一表面之上，用于将放射线转换为光；以及弹性部件，放置在基体和该第二表面之间，用于支撑该半导体基板的第二表面，从而所述半导体基板的第一表面彼此平齐。当作为单体测量所述弹性部件时，立方体被检查物在被在垂直于第一表面的方向上压缩时在平行于第一表面的方向上的拉伸量小于被检查物在被在平行于第一表面的方向上压缩时在垂直于第一表面的方向上的拉伸量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102481130A
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201080036991.9
申请日：2010-08-25
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 成像系统包括具有在辐射场(A)中出现照射的第一区域和在辐射场(B)中出现照射的第一区域以外的第二区域并被配置为输出图像数据的检测器(104)、和对于图像数据执行图像处理的图像处理单元(601)。图像处理单元(601)包含存储暗输出信息的存储单元(602)、测量施加到第一区域中的像素的辐射或光的积分剂量和施加到第二区域中的像素的辐射或光的积分剂量的测量单元(607)和当出现辐射场的改变时基于从存储单元(602)获得的暗输出信息和通过测量单元(607)测量的积分剂量校正图像数据的校正单元(610)。
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公开(公告)号：CN102413766A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201080018483.8
申请日：2010-03-12
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4233 , A61B6/585 , G01T1/2928 , H04N5/32 , H04N5/3597 , H04N5/374
Abstract: 成像装置(100)包括具有以矩阵布置的多个像素并且执行输出根据在预定的照射场中发射的放射线或光的图像数据的成像操作的检测器(104)、以及控制器单元(106)，并且，执行用于输出根据与像素的一部分对应的较窄照射场A中的放射线的图像数据的第一成像操作、以及用于输出根据较宽照射场B中的放射线的图像数据的第二成像操作，在控制检测器下以执行第二成像操作期间的积累操作，使得图像的阶跃为预先设定的可容许量。
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公开(公告)号：CN103622713B
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201310585888.5
申请日：2009-06-25
Applicant: 佳能株式会社
IPC: A61B6/00
Abstract: 本发明公开了放射线成像装置和放射线成像系统、以及它们的控制方法。提供一种成像装置，该成像装置（100）包含以矩阵方式布置并且用于执行放射线照相操作的多个像素的检测器（104），背景光源（115）、以及用于控制检测器（104）的操作和背景光源（115）的操作的控制单元（106）。放射线照相操作包含用于输出与放射线或光对应的图像数据的第一放射线照相操作和用于输出与放射线或光对应的图像数据的第二放射线照相操作。控制单元（106）控制背景光源（115）的操作，使得以基于关于第一放射线照相操作中的放射线的积分量的信息确定的背景光的积分量在第一放射线照相操作和第二放射线照相操作之间的间隔中执行背景光的照射。
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公开(公告)号：CN102654583B
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201210052458.2
申请日：2012-03-02
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2018
Abstract: 本公开涉及放射线检测装置及其制造方法、以及放射线检测系统。一种放射线检测装置包括：具有将放射线转换成光的闪烁体层和保护闪烁体层的闪烁体保护层的闪烁体面板；和具有其中布置有检测来自闪烁体层的光的多个光电转换器的传感器阵列和保护传感器阵列的传感器保护层的传感器面板。通过使用闪烁体保护层作为粘接剂材料使闪烁体层与传感器保护层粘接，使闪烁体面板与传感器面板接合。闪烁体保护层的主要成分与传感器保护层的主要成分相同。
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公开(公告)号：CN102396217B
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201080016788.5
申请日：2010-03-30
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01T1/2928 , H04N5/32 , H04N5/343 , H04N5/3454 , H04N5/357
Abstract: 成像操作包含用于根据与多个像素中的一部分对应的照射场A中的放射线或光对于检测器的照射输出图像数据的第一成像操作和用于根据比照射场A宽的照射场B中的放射线或光对于检测器104的照射输出图像数据的第二成像操作，其中，响应从照射场A中的照射到照射场B中的照射的改变，检测器的操作被控制，使得检测器在第一和第二成像操作之间的时段期间执行用于初始化转换元件的初始化操作。
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