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公开(公告)号：CN113390902A
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202110200601.7
申请日：2021-02-23
Applicant: 丰田自动车株式会社 , 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本公开涉及膜电极接合体的检查方法和检查装置，膜电极接合体的检查方法具备：向膜电极接合体照射X射线来取得X射线透视像；和参照沿着膜电极接合体的面方向的异物的大小与X射线透视像中的亮度降低量的相关关系，并根据所取得的X射线透视像中的各像素的亮度降低量，判定是否在膜电极接合体中包含预先决定好的大小以上的异物。
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公开(公告)号：CN115078425A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210138063.8
申请日：2022-02-15
Applicant: 丰田自动车株式会社 , 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N23/083 , G01N23/18 , G01N23/04 , G01B15/02 , H01M4/88 , H01M8/0273 , H01M8/1004
Abstract: 本发明涉及用于膜电极组件的检测方法和检查装置。膜电极组件的检查方法包括：第一过程，该第一过程获取膜电极组件的X射线透射图像；第二过程，该第二过程在第一过程中所获取的X射线透射图像中识别具有比周围区域的亮度低的亮度的亮度降低区域；第三过程，该第三过程基于膜电极组件中的异物的平面尺寸与由于X射线的衍射而引起的亮度变化之间的相关性，根据亮度降低区域的平面尺寸，校正在第二过程中识别的亮度降低区域的亮度；以及第四过程，该第四过程基于在第三过程中校正的亮度，求出膜电极组件中异物的厚度。
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公开(公告)号：CN105675640B
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201510838845.2
申请日：2015-11-26
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N23/223 , G01B11/06
Abstract: 本发明涉及荧光X射线分析装置。提供一种即使不将装置大型化也能够大幅度地提高载置于样品台的样品的测定位置的观察性并且样品的放入取出也变得容易的X射线分析装置。具备：样品台2，具有能够设置样品的载置面；X射线源3，配置在对样品照射一次X射线X1的照射位置P的正上方，对样品照射一次X射线；检测器4，对从被照射一次X射线后的样品产生的荧光X射线进行检测；以及遮蔽容器5，至少收纳样品台、X射线源和检测器，遮蔽容器具备：样品室部6，收纳样品台；以及门部7，能够对样品室部的上部的至少前半部分进行开闭，X射线源和检测器被配置在门部的后侧。
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公开(公告)号：CN107782750A
公开(公告)日：2018-03-09
申请号：CN201710717081.0
申请日：2017-08-21
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 高原稔幸
IPC: G01N23/04
Abstract: 提供X射线透射检查装置，其能够容易地进行基于标准试样的调整。该X射线透射检查装置具有：X射线源(2)，其对试样S1照射X射线；试样移动机构，其在来自X射线源的X射线的照射中使试样向特定方向连续移动；X射线检测器(4)，其相对于试样设置于与X射线源相反的一侧，检测透射过试样的X射线；标准试样移动机构(5)，其能够使设置于不同于试样的位置的标准试样S2移动；以及配置变更机构(6)，其能够使X射线源和X射线检测器与试样和标准试样相对移动，能够将X射线源和X射线检测器从与试样对置的配置状态变更到与通过标准试样移动机构移动的标准试样对置的配置状态。
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公开(公告)号：CN105628724A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201510835496.9
申请日：2015-11-26
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 高原稔幸
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076 , H01J35/16
Abstract: 本发明涉及荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法。提供了能够使装置小型化并且即使为大面积样品也能够高效地进行测定的荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法。具备：样品台2、X射线源、检测器、X台、Y台、θ台、以及遮蔽容器，一次X射线的照射位置P被设定为从可动中心O偏离，在不使θ台可动的状态下使X台和Y台可动时的一次X射线的能够照射的照射区域SA被设定为以通过可动中心的X方向的假想分割线B1和Y方向的假想分割线B2为界而将样品台的表面分为4个的分割区域A1~A4之中的配置有照射位置的一个，θ台能够使样品台按照每90°转动来切换成为照射区域的分割区域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117148461A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202310122246.5
申请日：2023-02-15
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 提供一种X射线检查装置以及X射线检查方法，即使是有可能产生翘曲、挠曲、起伏的试样，也能够准确地进行异物检查。具备：X射线源(2)，其对试样(S)照射X射线(X1)；X射线检测部(3)，其相对于试样设置于与X射线源相反的一侧，检测透过了试样的X射线；以及试样支承机构(14)，其支承试样，试样为具有挠性的膜状，试样支承机构具备紧贴着试样中的至少配置于X射线源与X射线检测部之间的部分而对该部分进行支承的、能够使X射线透过的支承体(4)。
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公开(公告)号：CN105675640A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201510838845.2
申请日：2015-11-26
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N23/223 , G01B11/06
Abstract: 本发明涉及荧光X射线分析装置。提供一种即使不将装置大型化也能够大幅度地提高载置于样品台的样品的测定位置的观察性并且样品的放入取出也变得容易的X射线分析装置。具备：样品台2，具有能够设置样品的载置面；X射线源3，配置在对样品照射一次X射线X1的照射位置P的正上方，对样品照射一次X射线；检测器4，对从被照射一次X射线后的样品产生的荧光X射线进行检测；以及遮蔽容器5，至少收纳样品台、X射线源和检测器，遮蔽容器具备：样品室部6，收纳样品台；以及门部7，能够对样品室部的上部的至少前半部分进行开闭，X射线源和检测器被配置在门部的后侧。
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公开(公告)号：CN102004113B
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201010265255.2
申请日：2010-08-26
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 高原稔幸
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明提供X线分析装置以及X线分析方法，能够以高作业效率、安全地进行试样测定。作为解决手段，使用了这样的X线分析装置，其特征在于，具有：放射线源，其向试样上的照射点照射放射线；X线检测器，其检测从试样放出的特性X线以及散射X线，输出包含特性X线以及散射X线的能量信息的信号；分析器，其对信号进行分析；载置试样的试样载置台；移动机构，其能够使试样载置台上的试样与放射线源及X线检测器相对地移动；高度测定机构，其能够测定试样上的照射点的高度；以及控制部，其根据测定到的试样上的照射点的高度，控制移动机构，调整试样与放射线源及X线检测器之间的距离。
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公开(公告)号：CN119880975A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202410966461.8
申请日：2024-07-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N23/223 , G01N23/2204 , G01N23/04
Abstract: 提供一种X射线分析装置，具有：送出部(2)，其将试样(S)以恒定的送出速度连续地向下游侧送出；异物检查分析部(10)，其进行被送出的试样中的异物的检查和分析；以及收卷部(7)，其对通过异物检查分析部后的试样进行收卷，异物检查分析部具备：异物位置检测部(3)，其检测被送出而正在进行移动的试样中的异物的位置；间歇输送部(4)，其在检测到异物时使试样中的检测到异物的部分在比异物位置检测部靠下游处间歇地停止或者使其移动速度成为比送出速度慢的速度；以及X射线分析部(5)，其对停止或者成为慢速的检测到异物的部分照射X射线来进行分析，间歇输送部在分析后将停止或者成为慢速的检测到异物的部分向收卷部排出。
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公开(公告)号：CN107782750B
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：CN201710717081.0
申请日：2017-08-21
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 高原稔幸
IPC: G01N23/04
Abstract: 提供X射线透射检查装置，其能够容易地进行基于标准试样的调整。该X射线透射检查装置具有：X射线源(2)，其对试样S1照射X射线；试样移动机构，其在来自X射线源的X射线的照射中使试样向特定方向连续移动；X射线检测器(4)，其相对于试样设置于与X射线源相反的一侧，检测透射过试样的X射线；标准试样移动机构(5)，其能够使设置于不同于试样的位置的标准试样S2移动；以及配置变更机构(6)，其能够使X射线源和X射线检测器与试样和标准试样相对移动，能够将X射线源和X射线检测器从与试样对置的配置状态变更到与通过标准试样移动机构移动的标准试样对置的配置状态。
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