公开(公告)号：CN113390902A

公开(公告)日：2021-09-14

申请号：CN202110200601.7

申请日：2021-02-23

Applicant: 丰田自动车株式会社 ,  日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 竹下慎也 ,  高原稔幸 ,  巽正树

IPC: G01N23/04

Abstract: 本公开涉及膜电极接合体的检查方法和检查装置，膜电极接合体的检查方法具备：向膜电极接合体照射X射线来取得X射线透视像；和参照沿着膜电极接合体的面方向的异物的大小与X射线透视像中的亮度降低量的相关关系，并根据所取得的X射线透视像中的各像素的亮度降低量，判定是否在膜电极接合体中包含预先决定好的大小以上的异物。

公开(公告)号：CN111650223B

公开(公告)日：2024-05-14

申请号：CN201911257396.7

申请日：2019-12-10

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 巽正树 ,  八木勇夫 ,  高桥春男

IPC: G01N23/04

Abstract: 提供X射线检查装置以及X射线检查方法，能够一边维持检测能力一边削减从TDI传感器传送的数据量，并且能够实时地传送数据。具有：X射线源；试样移动机构，其使试样沿特定的方向移动；TDI传感器；以及TDI运算部，其对沿着特定的方向的多个像素4g中的电荷的蓄积和传送进行控制，TDI运算部具有将进行了电荷的蓄积和传送的累积电荷的数据传送到外部的数据传送部，并且具有将能够检测试样的多列的线传感器4l预先设定为判断区域4A并在判断区域中检测试样的功能，数据传送部将在判断区域中检测到试样的像素的行及该行的周围的行设为检测行，仅对检测行的像素向外部传送累积电荷的数据。

公开(公告)号：CN117269213A

公开(公告)日：2023-12-22

申请号：CN202310511983.4

申请日：2023-05-08

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 金泽雄辉 ,  佐藤恒郎 ,  巽正树

IPC: G01N23/223 ,  B01L3/00 ,  G01N23/2204 ,  B65D6/10 ,  B65D81/26

Abstract: 提供流动试样用试样盒、荧光X射线分析装置以及方法。在石油等流动试样的荧光X射线分析中使用的流动试样用试样盒中，实现能够将流动试样的厚度控制为恒定的流动试样用试样池。具备：试样盒外框(107)，其在两端具有开口部；下部窗口构件(104)，其封闭试样盒外框的一个开口部；试样盒内框(106)，其在两端具有比试样盒外框的开口部窄的开口部；以及上部窗口构件(105)，其封闭试样盒内框的一个开口部，下部窗口构件和上部窗口构件中的至少一方由使X射线透过的物质构成，试样盒内框被插入到试样盒外框中，在下部窗口构件与上部窗口构件之间填充有流动试样(110)。

公开(公告)号：CN111650223A

公开(公告)日：2020-09-11

申请号：CN201911257396.7

申请日：2019-12-10

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 巽正树 ,  八木勇夫 ,  高桥春男

IPC: G01N23/04

Abstract: 提供X射线检查装置以及X射线检查方法，能够一边维持检测能力一边削减从TDI传感器传送的数据量，并且能够实时地传送数据。具有：X射线源；试样移动机构，其使试样沿特定的方向移动；TDI传感器；以及TDI运算部，其对沿着特定的方向的多个像素4g中的电荷的蓄积和传送进行控制，TDI运算部具有将进行了电荷的蓄积和传送的累积电荷的数据传送到外部的数据传送部，并且具有将能够检测试样的多列的线传感器4l预先设定为判断区域4A并在判断区域中检测试样的功能，数据传送部将在判断区域中检测到试样的像素的行及该行的周围的行设为检测行，仅对检测行的像素向外部传送累积电荷的数据。