一种光学测量点云的密封面误差评估缺陷识别方法

    公开(公告)号:CN111426282B

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN201811574410.1

    申请日:2018-12-21

    Abstract: 本发明涉及密封面测量缺陷识别技术领域,具体公开了一种光学测量点云的密封面误差评估缺陷识别方法。该方法包括:1、采集主泵法兰密封面点云数据;2、对点云数据进行预处理;5、根据主泵法兰密封面的点云数据,进行缺陷识别;5.1、建立误差色谱图;5.2、利用误差色谱的颜色变换梯度,获得梯度变换超过阈值的像素点所围城的封闭区域,实现对密封面缺陷的自动识别。该方法克服来现有测量方法无法实现原位、高精度、高效率自动化测量的缺陷;同时,基于测量原始点云数据自动评估零件2D尺寸误差、圆度/平面度误差,识别表面缺陷,简化了数据处理和误差评估的过程,提升了效率和精度,克服来传统方法获取深度信息困难的缺点。

    基于点云匹配的复杂形面缺陷识别定位与形状检测方法

    公开(公告)号:CN117368203A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311134248.2

    申请日:2023-09-05

    Abstract: 本发明属于在役零件三维缺陷检测领域,具体涉及一种基于点云匹配的复杂形面缺陷识别定位与形状检测方法。包括如下步骤:控制机器人将三维扫描仪送到法兰密封面上方,按照规划的路径对密封面进行扫描采集数据;通过拼接扫描结果,形成密封面完整点云数据;对采集的点云数据进行去噪、精简处理;采用点云匹配算法将精简后的数据与标准核电主泵法兰密封面参考点云进行匹配,将点采集的云数据和设计的标准模型统一到一个坐标系下;将生成的3D点云与标准模型进行比较,通过比较识别出形面缺陷,通过框选缺陷区域计算出选中的缺陷的位置和尺寸。有益效果在于:采用均匀采样能够有效减少点云数据量,可以解决测量重叠区域的点云数据分布密度不均问题。

    一种光学测量点云的密封面误差评估缺陷识别方法

    公开(公告)号:CN111426282A

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN201811574410.1

    申请日:2018-12-21

    Abstract: 本发明涉及密封面测量缺陷识别技术领域,具体公开了一种光学测量点云的密封面误差评估缺陷识别方法。该方法包括:1、采集主泵法兰密封面点云数据;2、对点云数据进行预处理;5、根据主泵法兰密封面的点云数据,进行缺陷识别;5.1、建立误差色谱图;5.2、利用误差色谱的颜色变换梯度,获得梯度变换超过阈值的像素点所围城的封闭区域,实现对密封面缺陷的自动识别。该方法克服来现有测量方法无法实现原位、高精度、高效率自动化测量的缺陷;同时,基于测量原始点云数据自动评估零件2D尺寸误差、圆度/平面度误差,识别表面缺陷,简化了数据处理和误差评估的过程,提升了效率和精度,克服来传统方法获取深度信息困难的缺点。

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