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公开(公告)号：CN116222732A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310172175.X
申请日：2023-02-16
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明的使用硬膜法和质量比较法对石英晶体微天平(Quartz Crystal Microbalance，简称：QCM)感测质量值的溯源方法，使得只要高精度质量比较仪和高准确度砝码的计量技术机构和实验室均可以采用本发明方法，实现对QCM感测质量值的溯源；实现QCM感测质量值溯源方法的简便化，获得更广泛的推广性；并且创新性的解决了16μg以下质量增量范围内对QCM的溯源，扩展溯源方法对微小质量溯源的范围，使得测量范围扩大至2μg至1000μg；而扩大的微小质量溯源的范围可以提高其质量灵敏度，进而更进一步的提高QCM检测精度，进而带来巨大的变化和影响。
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公开(公告)号：CN113514142B
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202110468045.1
申请日：2021-04-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及计量技术领域，提供砝码传送装置及质量测量系统。砝码传送装置包括安装壳，安装壳形成有输送口，输送口处安装有第一阀，安装壳内安装有承载件、转移机械手和传送机械手；转移机械手适于在承载件和传送机械手之间运动，用于托取承载件上的砝码并放置于传送机械手的端头；第一阀在开启输送口的开启状态和关闭输送口的关闭状态之间切换，在开启状态，端头适于从输送口伸出于安装壳。根据本发明实施例的砝码传送装置，通过转移机械手和传送机械手可以将承载件上的砝码传递至安装壳外，进而该种砝码传送装置可以实现自动传递，其操作简单高效。此外，在传送砝码的过程中无需改变砝码的重心，进而可以保证传送过程中砝码的稳定。
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公开(公告)号：CN107973046A
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201610940631.0
申请日：2016-10-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种大质量砝码存储装置，包括提供用于存储多个砝码的多个砝码存储位的支撑框架，所述多个砝码存储位被布置为在竖直方向上间隔开的多个层，每一层的砝码存储位沿着大致垂直于竖直方向的第一水平方向排列，所述大质量砝码存储装置限定出在大致垂直于竖直方向的第二水平方向上的砝码存取侧和相反的背侧，所述大质量砝码存储装置在所述砝码存取侧敞开以实现砝码的存取，每个砝码存储位包括将所存储的大质量砝码保持在相应砝码存储位中的砝码保持结构。本发明还提供了一种操作方便的砝码结构，此外还提供了一种大质量砝码操作模块结构。
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公开(公告)号：CN106289493A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610755450.0
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 一种高准确度大质量测量装置。本申请公开了一种用于测量砝码质量的测量装置，所述测量装置包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上并且包括平行设置的中刀和两个边刀；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端并且包括配衡砝码；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走；以及控制系统。中刀和两个边刀由金属材料以高温深冷循环工艺制成。中刀和两个边刀的平行度能够利用三坐标仪进行调节。控制系统能够控制配衡系统和称量系统，以实现配衡系统与称量系统的同步加载和卸载。
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公开(公告)号：CN106248192A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610753783.X
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 本申请公开了一种光学折射法与位移测定法相互验证的大质量测量装置，包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走；以及控制系统，所述控制系统包括安装在机架中的光学传感器，安装在主梁上的激光位移传感器，显示器，以及与光学传感器、激光位移传感器和显示器电连接的控制单元，其中，控制系统能够将通过光学传感器获得的主梁第一位移数据以及通过激光位移传感器获得的主梁第二位移数据相互验证，以准确地测定主梁的实际位移。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102435287B
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201110340871.4
申请日：2011-11-02
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/00
Abstract: 本发明提供一种砝码质量测量中的空气浮力修正装置，用于E1等级砝码质量测量中的空气浮力修正值的测量计算。在密闭箱体中设有放置砝码的腔体，腔体中设置有声音输出装置，利用声压采集装置采集声压信号。腔体外部放置的温度传感器、湿度传感器、压力传感器、CO2传感器分别采集相应的空气环境参数值。声压信号值和空气环境参数值均传递给综合信号采集处理卡，与综合信号采集处理卡连接的电脑接收到综合信号采集处理卡提供的信号数据，进行运算处理。计算出环境空气密度和砝码体积值，进而得出砝码质量测量中的空气浮力修正值。由于本发明采用将砝码体积测量与环境空气密度测量结合为一体的方式实现，节省了测量步骤，在同一环境中得出体积和空气密度测量结果，测量结果受环境影响小，结果准确性大大提高。
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公开(公告)号：CN107976247B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201610940592.4
申请日：2016-10-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种大质量砝码自动操作系统，包括：适于拾取和保持大质量砝码的砝码拾取装置；用于提供动力的动力装置；砝码传递装置，其包括第一水平导轨和被组装于所述第一水平导轨从而能够沿其移动的竖直向导轨，所述第一水平导轨沿第一水平方向延伸，所述竖直向导轨沿垂直于所述第一水平方向的竖直方向延伸，所述砝码拾取装置被组装于所述竖直向导轨；和用于控制砝码拾取装置的移动的控制单元；其中，所述控制单元控制所述动力装置使砝码拾取装置能够自动地沿第一水平方向移动并且能够自动地沿竖直方向移动。
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公开(公告)号：CN106289493B
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201610755450.0
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 一种高准确度大质量测量装置。本申请公开了一种用于测量砝码质量的测量装置，所述测量装置包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上并且包括平行设置的中刀和两个边刀；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端并且包括配衡砝码；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走；以及控制系统。中刀和两个边刀由金属材料以高温深冷循环工艺制成。中刀和两个边刀的平行度能够利用三坐标仪进行调节。控制系统能够控制配衡系统和称量系统，以实现配衡系统与称量系统的同步加载和卸载。
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公开(公告)号：CN119175534A
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202411481986.9
申请日：2024-10-23
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: B23P15/00
Abstract: 本发明包括一种椭圆型柔性铰链加工方法，包括采用对称交叉插铣方法使得柔性铰链在加工过程受到的切削力和切削热在左右两侧对称分布，包括获取柔性铰链加工参数和刀具参数，通过椭圆型柔性铰链轮廓上的切触点进行确定插铣加工位置点的分布对插铣位置求解；基于所述刀具中心位置和椭圆参数确定对初始的插铣加工代码，直至椭圆参数#imgabs0#得到完整的椭圆弧柔性铰链对称交叉插铣加工程序，导入数控机床中完成对柔性铰链的精加工。本发明采用的对称交叉插铣方法使得柔性铰链在加工过程受到的切削力和切削热在左右两侧对称分布，进一步减小加工变形。
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公开(公告)号：CN102435287A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110340871.4
申请日：2011-11-02
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/00
Abstract: 本发明提供一种砝码质量测量中的空气浮力修正装置，用于E1等级砝码质量测量中的空气浮力修正值的测量计算。在密闭箱体中设有放置砝码的腔体，腔体中设置有声音输出装置，利用声压采集装置采集声压信号。腔体外部放置的温度传感器、湿度传感器、压力传感器、CO2传感器分别采集相应的空气环境参数值。声压信号值和空气环境参数值均传递给综合信号采集处理卡，与综合信号采集处理卡连接的电脑接收到综合信号采集处理卡提供的信号数据，进行运算处理。计算出环境空气密度和砝码体积值，进而得出砝码质量测量中的空气浮力修正值。由于本发明采用将砝码体积测量与环境空气密度测量结合为一体的方式实现，节省了测量步骤，在同一环境中得出体积和空气密度测量结果，测量结果受环境影响小，结果准确性大大提高。
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