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公开(公告)号：CN107973046B
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201610940631.0
申请日：2016-10-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种大质量砝码存储装置，包括提供用于存储多个砝码的多个砝码存储位的支撑框架，所述多个砝码存储位被布置为在竖直方向上间隔开的多个层，每一层的砝码存储位沿着大致垂直于竖直方向的第一水平方向排列，所述大质量砝码存储装置限定出在大致垂直于竖直方向的第二水平方向上的砝码存取侧和相反的背侧，所述大质量砝码存储装置在所述砝码存取侧敞开以实现砝码的存取，每个砝码存储位包括将所存储的大质量砝码保持在相应砝码存储位中的砝码保持结构。本发明还提供了一种操作方便的砝码结构，此外还提供了一种大质量砝码操作模块结构。
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公开(公告)号：CN106248192B
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201610753783.X
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 本申请公开了一种光学折射法与位移测定法相互验证的大质量测量装置，包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走；以及控制系统，所述控制系统包括安装在机架中的光学传感器，安装在主梁上的激光位移传感器，显示器，以及与光学传感器、激光位移传感器和显示器电连接的控制单元，其中，控制系统能够将通过光学传感器获得的主梁第一位移数据以及通过激光位移传感器获得的主梁第二位移数据相互验证，以准确地测定主梁的实际位移。
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公开(公告)号：CN106197644B
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201610757971.X
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 本申请公开了一种用于测量砝码质量的测量装置，所述测量装置包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端并且包括环形的配衡砝码；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走；以及控制系统，所述控制系统包括安装在机架中的光学传感器，安装在主梁上的激光位移传感器，显示器，以及与光学传感器、激光位移传感器和显示器电连接的控制单元。配衡系统能够自动选中和加载任意组合的配衡砝码。
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公开(公告)号：CN107973046A
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201610940631.0
申请日：2016-10-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种大质量砝码存储装置，包括提供用于存储多个砝码的多个砝码存储位的支撑框架，所述多个砝码存储位被布置为在竖直方向上间隔开的多个层，每一层的砝码存储位沿着大致垂直于竖直方向的第一水平方向排列，所述大质量砝码存储装置限定出在大致垂直于竖直方向的第二水平方向上的砝码存取侧和相反的背侧，所述大质量砝码存储装置在所述砝码存取侧敞开以实现砝码的存取，每个砝码存储位包括将所存储的大质量砝码保持在相应砝码存储位中的砝码保持结构。本发明还提供了一种操作方便的砝码结构，此外还提供了一种大质量砝码操作模块结构。
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公开(公告)号：CN106289493A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610755450.0
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 一种高准确度大质量测量装置。本申请公开了一种用于测量砝码质量的测量装置，所述测量装置包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上并且包括平行设置的中刀和两个边刀；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端并且包括配衡砝码；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走；以及控制系统。中刀和两个边刀由金属材料以高温深冷循环工艺制成。中刀和两个边刀的平行度能够利用三坐标仪进行调节。控制系统能够控制配衡系统和称量系统，以实现配衡系统与称量系统的同步加载和卸载。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106248192A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610753783.X
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 本申请公开了一种光学折射法与位移测定法相互验证的大质量测量装置，包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走；以及控制系统，所述控制系统包括安装在机架中的光学传感器，安装在主梁上的激光位移传感器，显示器，以及与光学传感器、激光位移传感器和显示器电连接的控制单元，其中，控制系统能够将通过光学传感器获得的主梁第一位移数据以及通过激光位移传感器获得的主梁第二位移数据相互验证，以准确地测定主梁的实际位移。
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公开(公告)号：CN111238623A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010069026.7
申请日：2020-01-21
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 本申请涉及质量测量技术领域，具体涉及一种天平自动检测方法及装置，该方法包括：步骤S110：调整被测天平为水平状态；步骤S120：在被测天平称台上顺序加载组合式砝码，采集被测天平的示值图像；步骤S130：对示值图像进行分析识别并进行显示；步骤S140：调整组合式砝码在被测天平称台上的位置，返回执行步骤S120。解决了相关技术中不能实现各种类型天平的自动全量程检测的问题。
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公开(公告)号：CN107976247A
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201610940592.4
申请日：2016-10-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种大质量砝码自动操作系统，包括：适于拾取和保持大质量砝码的砝码拾取装置；用于提供动力的动力装置；砝码传递装置，其包括第一水平导轨和被组装于所述第一水平导轨从而能够沿其移动的竖直向导轨，所述第一水平导轨沿第一水平方向延伸，所述竖直向导轨沿垂直于所述第一水平方向的竖直方向延伸，所述砝码拾取装置被组装于所述竖直向导轨；和用于控制砝码拾取装置的移动的控制单元；其中，所述控制单元控制所述动力装置使砝码拾取装置能够自动地沿第一水平方向移动并且能够自动地沿竖直方向移动。
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公开(公告)号：CN106197644A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610757971.X
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 本申请公开了一种用于测量砝码质量的测量装置，所述测量装置包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端并且包括环形的配衡砝码；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走；以及控制系统，所述控制系统包括安装在机架中的光学传感器，安装在主梁上的激光位移传感器，显示器，以及与光学传感器、激光位移传感器和显示器电连接的控制单元。配衡系统能够自动选中和加载任意组合的配衡砝码。
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公开(公告)号：CN107976247B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201610940592.4
申请日：2016-10-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种大质量砝码自动操作系统，包括：适于拾取和保持大质量砝码的砝码拾取装置；用于提供动力的动力装置；砝码传递装置，其包括第一水平导轨和被组装于所述第一水平导轨从而能够沿其移动的竖直向导轨，所述第一水平导轨沿第一水平方向延伸，所述竖直向导轨沿垂直于所述第一水平方向的竖直方向延伸，所述砝码拾取装置被组装于所述竖直向导轨；和用于控制砝码拾取装置的移动的控制单元；其中，所述控制单元控制所述动力装置使砝码拾取装置能够自动地沿第一水平方向移动并且能够自动地沿竖直方向移动。
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