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公开(公告)号:CN106197644B
公开(公告)日:2018-10-09
申请号:CN201610757971.X
申请日:2016-08-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 本申请公开了一种用于测量砝码质量的测量装置,所述测量装置包括:机架;主梁,所述主梁被支撑在机架上;配衡系统,所述配衡系统加载于主梁的一端并且包括环形的配衡砝码;称量系统,所述称量系统加载于主梁的另一端;砝码传送系统,所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走;以及控制系统,所述控制系统包括安装在机架中的光学传感器,安装在主梁上的激光位移传感器,显示器,以及与光学传感器、激光位移传感器和显示器电连接的控制单元。配衡系统能够自动选中和加载任意组合的配衡砝码。
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公开(公告)号:CN106197644A
公开(公告)日:2016-12-07
申请号:CN201610757971.X
申请日:2016-08-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01G23/01
Abstract: 本申请公开了一种用于测量砝码质量的测量装置,所述测量装置包括:机架;主梁,所述主梁被支撑在机架上;配衡系统,所述配衡系统加载于主梁的一端并且包括环形的配衡砝码;称量系统,所述称量系统加载于主梁的另一端;砝码传送系统,所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走;以及控制系统,所述控制系统包括安装在机架中的光学传感器,安装在主梁上的激光位移传感器,显示器,以及与光学传感器、激光位移传感器和显示器电连接的控制单元。配衡系统能够自动选中和加载任意组合的配衡砝码。
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