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公开(公告)号：CN105891066A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610224899.4
申请日：2016-04-11
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/0211
Abstract: 本发明提供一种颗粒粒度检测装置及检测方法，涉及测试技术领域。它包括：光源、调制单元、样品池、分光棱镜、筛选转换单元和计算单元；筛选转换单元分别筛选出平行和垂直于散射面的散射光分量，并转换成光能量数据，进行反演计算求解颗粒粒径分布信息。本发明解决了现有技术中颗粒粒度检测装置结构复杂、操作不方便、使用成本高的技术问题。本发明有益效果为：根据两个散射光分量的比值进行颗粒粒度反演，这样有效地降低了光路中空气和杂散颗粒的影响，提高了颗粒粒度测量可靠性。结构简单合理，制造成本低。操作简单，携带方便，适应在线检测。
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公开(公告)号：CN105043253A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510346291.4
申请日：2015-06-18
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明涉及一种基于面结构光技术货车侧防护栏安装尺寸测量系统及方法。解决人工检验货车防护栏存在读数误差、环境误差，影响测量结果，测量效率较低的问题。系统包括有探测模块、测距模块、图形采集模块和图形处理模块，探测模块包括两个超声波探测器单元，测距模块包括结构光单元，图形采集模块包括摄像机单元，图形处理模块包括图像处理单元，超声波探测器单元与摄像机单元相连，摄像机单元和结构光单元分别与图形处理单元相连。系统采集货车侧面的二维图像信息，对图像进行分析处理，得到货车侧面防护栏的安装尺寸信息。本发明的优点是不用接触货车侧面防护装置，就能快速有效测量出货车侧面防护装置的安装尺寸，检测效率更高。
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公开(公告)号：CN102735185A
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201210207116.3
申请日：2012-06-19
Applicant: 中国计量学院
Inventor： 王道档
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种球面干涉检测中待测球面调整误差的高精度校正方法。首先利用干涉仪测得同时包含待测球面调整误差及其实际面形误差的原始波面数据，利用待测球面的数值孔径以及原始波面数据拟合多项式的离焦项，将离焦调整误差所引入的高阶像差从原始波面数据中分离出来，并通过消除原始波面数据拟合多项式的常数项、倾斜项、离焦项以及所分离出对应的高阶像差项，即可实现对球面干涉检测中待测球面倾斜和离焦调整误差的高精度校正，进而获得高精度的待测球面面形数据。本发明为精密球面、特别是大数值孔径球面的干涉检测中待测球面的调整误差提供了一种高精度的校正方法，在光学球面元件的精密加工、检测中具有重要应用价值。
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公开(公告)号：CN103234496A
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN201310106750.2
申请日：2013-03-28
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种三坐标测量机二维平台误差的高精度校正方法。利用精度要求低于或等于待测三坐标测量机二维平台的刚性栅格板作为辅助测量装置，并根据测得的六位姿状态下坐标测量机上各个标记点的坐标，运用基于最小二乘法的自校正算法将待测二维平台误差以及所使用的栅格板标尺误差从原始测量数据中分离出来，由此可实现对三坐标测量机二维平台的高精度校正。本发明可有效地获得待测的三坐标测量机二维平台误差，其测量精度可达到亚微米量级；同时该发明无需昂贵的专用高精度辅助装置，具有较高的可靠性，为三坐标测量机二维平台误差提供了一种高精度的校正方法，并具有极高的实际应用价值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105527027A
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201610008014.7
申请日：2016-01-05
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01J9/02
CPC classification number: G01J9/0215 , G01J2009/0223 , G01J2009/0242
Abstract: 本发明涉及一种亚微米孔径光纤点衍射波前测量的结构误差校正方法，通过无成像镜头的CCD探测器获取原始剪切波前数据，利用三维坐标重构对剪切波面数据进行预校正，再获取180度旋转测量探头后的预校正数据，将二者叠加，消除两点衍射源偏移引入的结构误差，得到真实剪切波面数据，再根据差分泽尼克多项式拟合方法拟合得到待测的亚微米孔径光纤点衍射波前，实现亚微米孔径光纤点衍射波前的高精度测量。
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公开(公告)号：CN105021126A
公开(公告)日：2015-11-04
申请号：CN201510344734.6
申请日：2015-06-18
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明涉及一种基于机器视觉技术货车侧防护栏安装尺寸测量系统及方法。解决现有技术中人工检验货车防护栏存在读数误差、环境误差等随机误差，影响测量结果，测量效率较低的问题。系统包括有测距模块、图形采集模块和图形处理模块，图形采集模块包括摄像机单元，测距模块与摄像机单元连接，图形处理模块包括图像信息处理单元，摄像机单元与图像信息处理单元相连。系统通过图像采集模块采集货车侧面的二维图像信息，由图像处理模块对图像进行分析处理，得到货车侧面防护栏及的安装尺寸信息。本发明的优点是不用接触货车侧面防护装置，就能快速有效测量出货车侧面防护装置的安装尺寸，检测效率更高。
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公开(公告)号：CN104330039A
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：CN201410510257.1
申请日：2014-09-28
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01B11/03
Abstract: 本发明提供一种用于三坐标测量的大数值孔径光纤点衍射干涉装置及方法，涉及光学测量。激光器发出光经过偏振分光棱镜分成透射光和反射光，透射光在亚波长孔径光纤出射端产生点衍射球面波前W2，反射光经过移动的反射镜反射后在亚波长孔径光纤出射端产生点衍射球面波前W1，CCD探测器采集W1和W2干涉条纹，通过多步移相和L-M算法的二重迭代算法实现被测目标的三维坐标的测量。本发明解决现有技术三坐标测量点衍射干涉仪难以同时实现大数值孔径和高能量的衍射球面波前问题。有益效果：两个亚波长孔径光纤的探针作为测量探头，获得高亮度和大数值孔径的点衍射球面波前降低感光灵敏度的要求，扩大三坐标测量的光纤点衍射干涉系统测量范围。
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公开(公告)号：CN105371752B
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201510808524.8
申请日：2015-11-19
Applicant: 中国计量学院
Abstract: 本发明涉及一种条纹对比度可调的偏振型米勒干涉装置及测量方法。偏振型米勒干涉装置包括依次从上到下设置的CCD探测器、成像透镜、检偏器、四分之一波片、分光板、显微物镜、参考反射镜和纳米线栅偏振器及依次从右到左设置在分光板右侧的偏振激光器、偏振器和准直扩束系统。测量方法为：以45°旋转步长、沿同一方向对检偏器的透光轴进行5次旋转，在CCD探测器上得到5幅相位分别相差90°的移相干涉条纹图，再利用五步移相算法即可实现测量；调节偏振器的透光轴方向即可实现条纹对比度的调节。本发明能方便地调节条纹对比度，有效解决纳米线栅偏振器反射光消光比低而导致的移相干涉条纹对比度不一致问题，满足低反射率待测样品的高精度测量。
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公开(公告)号：CN104330039B
公开(公告)日：2017-09-19
申请号：CN201410510257.1
申请日：2014-09-28
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01B11/03
Abstract: 本发明提供一种用于三坐标测量的大数值孔径光纤点衍射干涉装置及方法，涉及光学测量。激光器发出光经过偏振分光棱镜分成透射光和反射光，透射光在亚波长孔径光纤出射端产生点衍射球面波前W2，反射光经过移动的反射镜反射后在亚波长孔径光纤出射端产生点衍射球面波前W1，CCD探测器采集W1和W2干涉条纹，通过多步移相和L‑M算法的二重迭代算法实现被测目标的三维坐标的测量。本发明解决现有技术三坐标测量点衍射干涉仪难以同时实现大数值孔径和高能量的衍射球面波前问题。有益效果：两个亚波长孔径光纤的探针作为测量探头，获得高亮度和大数值孔径的点衍射球面波前降低感光灵敏度的要求，扩大三坐标测量的光纤点衍射干涉系统测量范围。
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