公开(公告)号：CN119334490A

公开(公告)日：2025-01-21

申请号：CN202411854534.0

申请日：2024-12-17

Applicant: 中国计量大学

Inventor： 董志成 ,  屠静怡 ,  邵诗佳 ,  程旭东 ,  任杭良 ,  胡益 ,  徐前程 ,  江婷婷 ,  朱云龙 ,  李健 ,  董培梅 ,  薛振宇

IPC: G01K7/38 ,  G01K7/34

Abstract: 本发明涉及一种无线无源温度传感器，包括：温敏层；第一电感线圈、第二电感线圈，磁性薄膜。所述第一电感线圈固定设置于所述温敏层的一侧，所述第二电感线圈固定设置于所述温敏层的另一侧，以垂直于所述温敏层的方向为中心，所述第一电感线圈、所述第二电感线圈均呈螺旋设置，且所述第一电感线圈、所述第二电感线圈的螺旋方向相反；磁性薄膜，位于所述第二电感线圈背离所述温敏层的一侧，且所述磁性薄膜与所述第二电感线圈固定抵接；或者，所述磁性薄膜位于所述第一电感线圈背离所述温敏层的一侧，且所述磁性薄膜与所述第一电感线圈固定抵接；所述磁性薄膜与所述温敏层间隔设置。本申请的传感器具有高灵敏性，准确度高等优异性能。

公开(公告)号：CN118463790A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202410582879.9

申请日：2024-05-11

Applicant: 中国计量大学

Inventor： 刘晔 ,  邵诗佳 ,  王萍 ,  廖微燕 ,  陈依鑫 ,  谢扬 ,  邱阳 ,  朱明敏 ,  郁国良 ,  王嘉维 ,  李燕 ,  周浩淼

IPC: G01B7/06

Abstract: 本发明属于薄膜厚度测量技术领域，具体地而言为一种基于电涡流磁场探测的金属薄膜厚度测量方法及系统，该方法包括：给金属薄膜施加一个激励磁场，测量金属薄膜产生的感应磁场，根据激励磁场与感应磁场在z方向上分量之和，即合磁场，计算金属薄膜的厚度。本发明可以通过调节激励磁场频率实现0.65nm‑1000μm范围内金属薄膜厚度的测量。