一种螺纹扫描测量仪的校准方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119533239A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411803514.0

    申请日:2024-12-09

    Abstract: 本发明公开了一种螺纹扫描测量仪的校准方法,包括:通过连接工具连接多个角度量块和多个长度量块模拟螺纹齿面,两端通过2个端盖固定,形成组合式螺纹标准器,所述角度量块有两个对称稳定准确的工作角度和一个稳定准确的工作长度;将组合式螺纹标准器安装在螺纹扫描测量仪上,使用螺纹扫描测量仪的量针对组合式螺纹标准器的模拟螺纹齿面进行扫描,再对该齿面的曲线进行拟合,计算出对应的螺纹中径、牙侧角和螺距参数的测量值,将其与标准值相减,得到对应参数的示值误差作为螺纹扫描测量仪的校准结果。本发明通过使用方便溯源的组合式螺纹标准器替代标准螺纹量规,能够提高螺纹扫描仪标准器的准确度,满足螺纹扫描测量仪的校准需求。

    一种高低温环境下LVDT传感器校准装置

    公开(公告)号:CN117606341A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311602634.X

    申请日:2023-11-28

    Abstract: 本发明公开了一种高低温环境下LVDT传感器校准装置,包括高低温箱、位移台、支撑架、LVDT传感器及夹持装置、测量机构及夹持装置;位移台上设置有沿左右轴线方向延伸的连接杆,连接杆的末端带有输出端头,输出端头用于推动待校准的LVDT传感器运动,测量机构用于测量输出端头的位移量变化,用于对LVDT传感器的测量结果进行校准;LVDT传感器和测量机构都置于高低温箱中,LVDT传感器安装在LVDT传感器夹持装置上,测量机构安装在测量机构夹持装置上,LVDT传感器夹持装置和测量机构夹持装置安装在支撑架上,支撑架伸入高低温箱中,连接杆穿过测量机构夹持装置。本发明解决了LVDT传感器在高低温环境下的校准问题,可实现快速装调以及自动校准。

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