公开(公告)号：CN108596414A

公开(公告)日：2018-09-28

申请号：CN201711286013.X

申请日：2017-12-07

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 李健 ,  沈岭 ,  刘金燕 ,  赵子覃 ,  赵礼兵

IPC: G06Q10/06

Abstract: 本发明公开了一种针对航天产品的重要度计算方法，考虑各风险基本事件的不确定性的影响；事件发生导致的后果严重程度是风险度量的一个重要维度，但标准方法中未考虑该因素，针对这一情况，本发明采用的重要度计算方法，考虑各风险基本事件发生导致的后果严重程度；为将“最小割集阶次”与“包含风险基本事件的最小割集个数”两个因素纳入本发明的重要度分析中，并实现重要度评价指标的一致化，将结构重要度作为本发明重要度的一个参数：无量级化采用当前因素值与最大值的比值作为因素值，保证每个因素各参数无量级化后的最大值为1，与归一化方法相比，该种无量级化方法不受风险基本事件数量的影响；根据FTA模型与PRA模型的特点，分别提出了重要度计算方法，使本发明能够在FTA与PRA中得到应用。

公开(公告)号：CN106529090B

公开(公告)日：2019-06-14

申请号：CN201611140081.0

申请日：2016-12-12

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 李健 ,  沈岭 ,  赵礼兵 ,  周海京 ,  刘金燕 ,  宗益燕 ,  赵子覃

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明公开了一种基于失效机理的航天电子产品可靠性评估方法，在采用物理仿真与试验相结合的分析方法，构建电子产品的物理仿真模型，采用灵敏度分析、蒙特卡罗分析、应力分析等手段，识别产品关键元器件的基础上，结合元器件的实际工况，开展失效机理分析。目前，针对元器件的失效机理分析主要是在电子产品试验或使用过程中出现失效后，用于分析失效原因的一种手段，从而有针对性的改进产品，提高产品的寿命与可靠性；本发明运用失效机理分析的目的在于找到影响薄弱器件寿命与可靠性的关键特征参数，为作为可靠性模型的自变量。

公开(公告)号：CN106529090A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201611140081.0

申请日：2016-12-12

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 李健 ,  沈岭 ,  赵礼兵 ,  周海京 ,  刘金燕 ,  宗益燕 ,  赵子覃

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5036 ,  G06F2217/10

Abstract: 本发明公开了一种基于失效机理的航天电子产品可靠性评估方法，在采用物理仿真与试验相结合的分析方法，构建电子产品的物理仿真模型，采用灵敏度分析、蒙特卡罗分析、应力分析等手段，识别产品关键元器件的基础上，结合元器件的实际工况，开展失效机理分析。目前，针对元器件的失效机理分析主要是在电子产品试验或使用过程中出现失效后，用于分析失效原因的一种手段，从而有针对性的改进产品，提高产品的寿命与可靠性；本发明运用失效机理分析的目的在于找到影响薄弱器件寿命与可靠性的关键特征参数，为作为可靠性模型的自变量。