公开(公告)号：CN106529090A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201611140081.0

申请日：2016-12-12

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 李健 ,  沈岭 ,  赵礼兵 ,  周海京 ,  刘金燕 ,  宗益燕 ,  赵子覃

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5036 ,  G06F2217/10

Abstract: 本发明公开了一种基于失效机理的航天电子产品可靠性评估方法，在采用物理仿真与试验相结合的分析方法，构建电子产品的物理仿真模型，采用灵敏度分析、蒙特卡罗分析、应力分析等手段，识别产品关键元器件的基础上，结合元器件的实际工况，开展失效机理分析。目前，针对元器件的失效机理分析主要是在电子产品试验或使用过程中出现失效后，用于分析失效原因的一种手段，从而有针对性的改进产品，提高产品的寿命与可靠性；本发明运用失效机理分析的目的在于找到影响薄弱器件寿命与可靠性的关键特征参数，为作为可靠性模型的自变量。

公开(公告)号：CN106529090B

公开(公告)日：2019-06-14

申请号：CN201611140081.0

申请日：2016-12-12

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 李健 ,  沈岭 ,  赵礼兵 ,  周海京 ,  刘金燕 ,  宗益燕 ,  赵子覃

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明公开了一种基于失效机理的航天电子产品可靠性评估方法，在采用物理仿真与试验相结合的分析方法，构建电子产品的物理仿真模型，采用灵敏度分析、蒙特卡罗分析、应力分析等手段，识别产品关键元器件的基础上，结合元器件的实际工况，开展失效机理分析。目前，针对元器件的失效机理分析主要是在电子产品试验或使用过程中出现失效后，用于分析失效原因的一种手段，从而有针对性的改进产品，提高产品的寿命与可靠性；本发明运用失效机理分析的目的在于找到影响薄弱器件寿命与可靠性的关键特征参数，为作为可靠性模型的自变量。