公开(公告)号：CN117954893A

公开(公告)日：2024-04-30

申请号：CN202311659163.6

申请日：2023-12-06

Applicant: 上海航天科工电器研究院有限公司 ,  中国空间技术研究院

Inventor： 曹永泉 ,  张义 ,  李应朝 ,  焦美荣 ,  乔世晶 ,  田伟冬 ,  刘承溪

IPC: H01R13/436 ,  H01R13/639 ,  H01R13/533 ,  H01R13/518 ,  H01R13/631 ,  H01R12/73 ,  H01R12/70

Abstract: 本发明公开了高可靠低矮化板间高速连接器，包括插头连接器和插座连接器，所述插头连接器和插座连接器插接配合，所述插头连接器包括头基座和多组插接合件，所述插座连接器包括座基座和多组接触合件，所述插接合件包括插合端子、插接焊接端和插接连接端，所述接触合件包括连接端子、接触焊接端和接触连接端。多组插接合件与接触合件插接固定形成连接器的信号传输体，缩短信号传输路径长度，进而降低连接器高度，同时多组插接合件与接触合件交错排列，在减小连接器体积的同时增加信号传输通道数量，进而大幅度增加了可传输的数据量，方便在低矮板间距及狭小空间设备等场合使用。

公开(公告)号：CN117852588A

公开(公告)日：2024-04-09

申请号：CN202311783926.8

申请日：2023-12-22

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 梁培哲 ,  祝名 ,  李爽 ,  张大宇 ,  万旺 ,  张松 ,  王贺 ,  焦美荣 ,  王征 ,  屈若媛 ,  杨舒文 ,  刘一帆

IPC: G06N3/0464 ,  G06N3/048

Abstract: 本发明公开了一种基于深层残差神经网络的AI芯片测评参数确定方法，包括：设计深层残差神经网络FDNet，对该深层残差神经网络FDNet进行训练得到浮点模型，并得到目标分类任务下的测评参数；将浮点模型进行量化得到定点模型，将定点模型部署于硬件板卡，通过在硬件板卡上的推理得到目标分类任务下的测评参数；得到的浮点模型和定点模型得到的测评参数，用于对使用深层残差神经网络FDNet时AI芯片的应用性能进行评价。本发明可以适用于多种宇航数据集，鲁棒性强。

公开(公告)号：CN118112349A

公开(公告)日：2024-05-31

申请号：CN202410215520.8

申请日：2024-02-27

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 祝名 ,  李江 ,  焦美荣 ,  魏震霄 ,  杨舒文

IPC: G01R31/00 ,  G06N3/048 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 一种在轨微处理器智能故障诊断装置及方法。所述在轨智能故障诊断装置，包括运算放大器，采集被测微处理器的多路电源电流信息；模拟开关，周期性切换运算放大器采集的多路电源电流信息；差分运放，对运算放大器采集到的多路电源电流信息进行信号调理；ADC模块，将差分运放调理后的多路电源电流模拟量转化成数字信号，得到数字形式的电流功耗信息；滤波模块，对得到的数字形式的电流功耗信息进行过滤和降噪；神经网络诊断模块，构建故障诊断模型，从过滤和降噪后的电流信息中提取特征信息，利用神经网络与故障诊断模型进行对比，做出故障诊断。本发明能够覆盖微处理器在轨故障诊断，通用性高。

公开(公告)号：CN117929956A

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202311783928.7

申请日：2023-12-22

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 唐章东 ,  王征 ,  薄鹏 ,  宁永成 ,  景福刚 ,  万旺 ,  焦美荣 ,  田伟冬 ,  李江 ,  赵亚娟 ,  杨坤 ,  张大宇 ,  张松 ,  梁培哲

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/12

Abstract: 本发明公开了一种浪涌测试电路，包括浪涌电流单元和阻断测试单元；浪涌电流单元用于向待测二极管输出正向浪涌电信号；阻断测试单元用于向待测二极管输出反向阻断测试电压，并采集待测二极管在正向浪涌电信号和反向阻断测试电压作用下的电流值，根据电流值评估待测二极管是否失效。本发明还公开了一种包含上述电路的浪涌测试装置。本发明可以实现正弦波浪涌与方波浪涌、直流阻断、交流阻断等多功能与一体的浪涌电流测试。

公开(公告)号：CN117828832A

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202311655606.4

申请日：2023-12-05

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 李剑焘 ,  宁永成 ,  王征 ,  屈若媛 ,  匡潜玮 ,  吉美宁 ,  丛山 ,  张靓 ,  焦美荣 ,  王博闻 ,  韩晓东 ,  崔华楠

IPC: G06F30/20 ,  G06F17/18 ,  G06F111/20 ,  G06F119/02 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明设计了基于过程控制的元器件筛选试验优化方法，该方法基于元器件历史过程控制和与质量数据分析，通过筛选有效性分析、筛选‑工序关联性分析等方法确定优化方案，实现试验项目减免、试验应力调整、试验顺序优化等针对性优化调整。并通过风险分析确定优化后出现不合格品的风险，最终实现筛选试验的动态监控和调整，实现高效率、差异化质量保证。

公开(公告)号：CN117647752A

公开(公告)日：2024-03-05

申请号：CN202311603964.0

申请日：2023-11-28

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 庄仲 ,  李庆 ,  房静 ,  杨发明 ,  杨彦朝 ,  张靓 ,  董浩威 ,  李璇 ,  焦美荣 ,  郭燕君 ,  于福利 ,  匡潜玮 ,  常明超 ,  丛山

IPC: G01R31/40 ,  H02H7/12 ,  H02H9/02

Abstract: 本发明涉及一种电压转换器级联式高温动态老炼电路，包括老炼供电单元、老炼工位单元、级联选择开关单元和LED指示灯单元，老炼供电单元包含电源端和接地端，为整个老炼电路提供电源；老炼工位单元包括若干个老炼工位，每个老炼工位上均设置老炼工位配置管脚和老炼工位电压转换器管脚，每一个老炼工位通过老炼工位配置管脚获得老炼所需信号，将所需老炼信号输送给老炼工位上电压转换器；LED指示灯单元，对应每一个老炼工位单元的工作状态，LED指示灯采集对应老炼工位上电压转换器的老炼输出状态，输出正常时LED指示灯发光。本发明能够快速完成老炼调试故障定位，避免了浪涌电流集中。

公开(公告)号：CN117538737A

公开(公告)日：2024-02-09

申请号：CN202311395955.7

申请日：2023-10-25

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 王贺 ,  屈若媛 ,  万旺 ,  梁培哲 ,  张大宇 ,  张松 ,  焦美荣 ,  景福刚 ,  王锦 ,  李伟英

IPC: G01R31/3185 ,  G01R31/319

Abstract: 本发明涉及一种FPGA多工位动态老炼的配置电路与方法，包括：存储器、继电器、驱动器、时钟、主FPGA和N个从FPGA。本发明的与现有大多数技术方案相比，不需要专用的外部配置处理器/计算机/编程器，因此没有额外的开发成本，并且由被测FPGA作为主器件，上电即行，试验操作简便。本发明采用串行配置接口，使用的DUT配置端口数量较少，因此产生接触性问题的风险更低，可靠性更高。本发明考虑到了老炼板上不同从FPGA到主FPGA距离的不同，设计了配置时钟频率自适应的配置接口，可对距离较远的从FPGA自动降低配置频率，配置成功率更高。

公开(公告)号：CN215728509U

公开(公告)日：2022-02-01

申请号：CN202121898521.5

申请日：2021-08-13

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 郭燕君 ,  刘承溪 ,  张义 ,  于一翔 ,  杨坤 ,  常明超 ,  侯岳 ,  焦美荣 ,  景福刚 ,  李璇

IPC: G01R31/00 ,  H01G4/30

Abstract: 本实用新型提供了一种多层片式陶瓷电容器测试放电装置，包括电阻膜层(1)和绝缘基板(2)，所述电阻膜层(1)平铺于陶瓷基板上，通过陶瓷基板上印刷的电阻浆料高温烧结而成；所述绝缘基板(2)为平板结构，起绝缘和支撑作用。本发明中多层片式陶瓷电容器测试放电装置，结构和制备方法简单，使用此装置，可省去放电测试环节，提高测试安全性，降低测试成本，提升测试效率；根据待测多层片式陶瓷电容器的数量，可定制放电装置的尺寸，拓展性强。