公开(公告)号：CN115861229A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202211528460.2

申请日：2022-11-30

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 李璇 ,  贾晓 ,  常明超 ,  辛奇 ,  纪维 ,  张帅 ,  杨发明 ,  庄仲 ,  刘敏 ,  王博闻 ,  郭燕君 ,  朱春林

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/762 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/80 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明公开了一种基于YOLOv5s元器件封装缺陷X射线检测方法。构建样本数据集；采集到的X射线芯片图像通过人工标注得到每一张图片的标签数据，标签数据包括：气泡缺陷的中心点坐标值、宽高值和类别。采用K‑means++算法对芯片数据集真实标注框宽高值进行聚类，得到三个尺度的先验框初始值。搭建轻量化的YOLOv5s轻量化检测模型，为充分利用多尺度语义信息，采用轻量的BiFPN的多尺度双向特征融合思想构建特征融合网络。引入Ghost模块替换掉C3模块，对主干网络进行轻量化，在不降低精度的前提下提高检测速度。构建损失函数，利用QFocal loss代替二分类交叉熵损失函数，解决正负样本不均衡问题。

公开(公告)号：CN117828832A

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202311655606.4

申请日：2023-12-05

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 李剑焘 ,  宁永成 ,  王征 ,  屈若媛 ,  匡潜玮 ,  吉美宁 ,  丛山 ,  张靓 ,  焦美荣 ,  王博闻 ,  韩晓东 ,  崔华楠

IPC: G06F30/20 ,  G06F17/18 ,  G06F111/20 ,  G06F119/02 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明设计了基于过程控制的元器件筛选试验优化方法，该方法基于元器件历史过程控制和与质量数据分析，通过筛选有效性分析、筛选‑工序关联性分析等方法确定优化方案，实现试验项目减免、试验应力调整、试验顺序优化等针对性优化调整。并通过风险分析确定优化后出现不合格品的风险，最终实现筛选试验的动态监控和调整，实现高效率、差异化质量保证。