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公开(公告)号：CN111652844A
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN202010345590.7
申请日：2020-04-27
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法，所述方法包括如下步骤：对元器件图像中的外部阴影进行滤波处理得到阴影滤波后的图像；对阴影滤波后的图像采用基于灰度投影积分的边缘检测方法得到阴影滤波后的图像中元器件的倾斜角度，对阴影滤波后的图像进行空间坐标变换得到旋转校正后的元器件图像；将旋转校正后的元器件图像通过双三次内插算法得到统一尺寸的图像；对统一尺寸的图像采用归一化互相关的匹配算法得到模板匹配的图像；采用区域生长算法的对模板匹配的图像进行图像分割得到元器件的缺陷位置。本发明解决了当前的X射线检测试验效率较低，人员劳动强度大的问题。
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公开(公告)号：CN105928678B
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201610244083.8
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种CCD图像传感器振动、冲击试验夹具，包括夹具本体和盖板，夹具本体为立方体结构，在每个面上设置有放置CCD图像传感器的样品放置孔，每个面上的样品放置孔轴对称或中心对称；在样品放置孔上开有引脚固定孔，带有引脚的CCD图像传感器可插入夹具本体的引脚固定孔中。本发明将夹具本体设计为立方体结构，每个面样品放置孔厚度为0.6cm～1.3cm，六个面围成中空结构，样品放置孔轴对称或中心对称设计，以防止在振动过程中产生共振，造成样品损伤；同时在设备对样品重量有一定要求的情况下，以完成60G～80G高量级振动、3000G以上冲击试验，易于实现夹具本体的空间反转。
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公开(公告)号：CN119262559A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411503932.8
申请日：2024-10-25
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本申请公开了一种芯片防结霜的自动下料机构，涉及元器件低温电性能测试领域，包括通过太空舱结构在低温箱内通入干燥的低温氮气，保持低温环境不易结霜，转动圆盘机构存储待测器件，控制台控制转动圆盘的待取芯片盒旋转至手孔一侧，且控制取料机构到达不同高度的转动圆盘上进行取料，手孔传送器件至太空舱结构实现完整下料。达到了在低温电性能测试过程中防止芯片结霜的技术效果。
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公开(公告)号：CN108188952B
公开(公告)日：2019-08-09
申请号：CN201711291926.0
申请日：2017-12-08
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明属于宇航用元器件技术领域，特别涉及一种用于X射线检测试验夹具的设计。本发明的夹具采用子母夹具的设计方式，可伸缩延展，扩展性强，适用多种封装形式；子母夹具间已卡簧固定，便于拆装；本发明的夹具采用矩阵阵列，便于器件的准确定位及快速查找计数；且操作简便，可实现待试器件的快速翻转，满足器件多方向射线检测试验需求，大幅度提高X光试验的效率；本发明的夹具能够避免常规胶贴法固定对器件造成显性损害及隐形损伤的问题。
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公开(公告)号：CN111652844B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202010345590.7
申请日：2020-04-27
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法，所述方法包括如下步骤：对元器件图像中的外部阴影进行滤波处理得到阴影滤波后的图像；对阴影滤波后的图像采用基于灰度投影积分的边缘检测方法得到阴影滤波后的图像中元器件的倾斜角度，对阴影滤波后的图像进行空间坐标变换得到旋转校正后的元器件图像；将旋转校正后的元器件图像通过双三次内插算法得到统一尺寸的图像；对统一尺寸的图像采用归一化互相关的匹配算法得到模板匹配的图像；采用区域生长算法的对模板匹配的图像进行图像分割得到元器件的缺陷位置。本发明解决了当前的X射线检测试验效率较低，人员劳动强度大的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114487499A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202111669582.9
申请日：2021-12-31
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R1/04
Abstract: 本发明公开了一种光电器件测试转换夹具，包括夹具引脚，下底板，中间接口板，弹簧片和上盖板；中间接口板固定安装于下底板上，中间接口板设有用于安装待测器件的凹槽，弹簧片固定于所述凹槽底部，夹具引脚一端与弹簧片连接，另一端延伸至下底板外部；上盖板一端与中间接口板转动连接，待测器件置于中间接口板所设凹槽内，上盖板压紧待测器件，同时待测器件引出端压紧弹簧片，通过弹簧片实现待测器件与夹具引脚的连接，盖板上设有与待测器件相对应的光窗口，光源所发出的光通过光窗口到达待测器件。本发明转接夹具结构简单，安装快捷，拆卸方便，适用性广，能够有效提高测试效率，同时转接夹具稳定性强，能够有效改进测试良率。
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公开(公告)号：CN114155197A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111314595.4
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种元器件缺陷检测方法及装置，所述方法包括：获取目标元器件的X射线图像，并对所述X射线图像进行降噪处理，得到第一图像；消除所述第一图像的非均匀光照背景，得到第二图像；基于模板匹配定位所述第二图像中待检测的目标元器件图像；通过预设图像分割算法，将目标元器件图像从所述第二图像中分割出来；基于局部信息熵结合区域生长算法，对所述X射线图像中的多余物进行检测，以检测到所述目标元器件的缺陷。本申请实施例提供的元器件缺陷检测方法，高效且可节省大量人力资源，所得检测结果准确、可靠。
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公开(公告)号：CN108188952A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201711291926.0
申请日：2017-12-08
Applicant: 中国空间技术研究院
CPC classification number: B25B11/00 , G01N23/00 , G01N2223/1016 , G01N2223/646
Abstract: 本发明属于宇航用元器件技术领域，特别涉及一种用于X射线检测试验夹具的设计。本发明的夹具采用子母夹具的设计方式，可伸缩延展，扩展性强，适用多种封装形式；子母夹具间已卡簧固定，便于拆装；本发明的夹具采用矩阵阵列，便于器件的准确定位及快速查找计数；且操作简便，可实现待试器件的快速翻转，满足器件多方向射线检测试验需求，大幅度提高X光试验的效率；本发明的夹具能够避免常规胶贴法固定对器件造成显性损害及隐形损伤的问题。
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公开(公告)号：CN105928678A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610244083.8
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种CCD图像传感器振动、冲击试验夹具，包括夹具本体和盖板，夹具本体为立方体结构，在每个面上设置有放置CCD图像传感器的样品放置孔，每个面上的样品放置孔轴对称或中心对称；在样品放置孔上开有引脚固定孔，带有引脚的CCD图像传感器可插入夹具本体的引脚固定孔中。本发明将夹具本体设计为立方体结构，每个面样品放置孔厚度为0.6cm～1.3cm，六个面围成中空结构，样品放置孔轴对称或中心对称设计，以防止在振动过程中产生共振，造成样品损伤；同时在设备对样品重量有一定要求的情况下，以完成60G～80G高量级振动、3000G以上冲击试验，易于实现夹具本体的空间反转。
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公开(公告)号：CN207908596U
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201820278686.4
申请日：2018-02-27
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 本实用新型涉及一种用于间歇寿命试验的控制装置，属于宇航用元器件可靠性试验技术领域。该装置包括IGBT模块、平波电容、采样分流器和微处理器；所述的IGBT模块中包括IGBT开关和二极管；所述的IGBT模块与电源的正极连接，IGBT模块与平波电容连接，平波电容的负端接地；平波电容通过IGBT模块中的二极管与试验器件的正端连接，试验器件的正端和负端均与采样分流器连接，采样分流器还与微处理器连接，采样分流器还与电源负极连接；微处理器与IGBT模块连接，微处理器与平波电容连接。
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