一种量化评估安全芯片安全性的方法及系统

    公开(公告)号:CN104881618B

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201410856616.9

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明提供了一种量化评估安全芯片安全性的方法及系统,通过对待评估安全芯片进行错误注入攻击,以确定安全芯片在空间上的易受错误注入攻击的敏感点,再对敏感点进行错误注入攻击,确定每个敏感点易受错误注入攻击的敏感时间长度,之后确定安全芯片在时间、空间上的敏感区域其中n表示所述敏感点的个数,t(i)表示第i个敏感点的敏感时间长度,i为正整数,最后根据安全芯片的总面积、安全芯片完成一次加/解密所需要的总时间以及安全芯片在时间、空间上的敏感区域,对安全芯片的安全性进行量化评估。因此,根据本发明实施例的量化评估安全芯片安全性的方法及系统,能够在空间和时间上对安全芯片的安全性进行量化评估。

    一种量化评估安全芯片安全性的方法及系统

    公开(公告)号:CN104881618A

    公开(公告)日:2015-09-02

    申请号:CN201410856616.9

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明提供了一种量化评估安全芯片安全性的方法及系统,通过对待评估安全芯片进行错误注入攻击,以确定安全芯片在空间上的易受错误注入攻击的敏感点,再对敏感点进行错误注入攻击,确定每个敏感点易受错误注入攻击的敏感时间长度,之后确定安全芯片在时间、空间上的敏感区域,其中n表示所述敏感点的个数,t(i)表示第i个敏感点的敏感时间长度,i为正整数,最后根据安全芯片的总面积、安全芯片完成一次加/解密所需要的总时间以及安全芯片在时间、空间上的敏感区域,对安全芯片的安全性进行量化评估。因此,根据本发明实施例的量化评估安全芯片安全性的方法及系统,能够在空间和时间上对安全芯片的安全性进行量化评估。

    一种随机硬件故障定位方法、系统及存储介质

    公开(公告)号:CN119718793A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411454579.9

    申请日:2024-10-17

    Abstract: 本发明提供了一种随机硬件故障定位方法、系统及存储介质,通过从芯片的电路模块中筛选出脆弱单元;基于预先建立的测试仿真平台中对各个所述脆弱单元进行故障检测操作,得到故障检测结果,并基于故障检测结果建立压缩感知方程;对所述压缩感知方程进行求解,根据求解结果定位出发生随机硬件故障的脆弱单元。本申请由于从微观角度出发先筛选出脆弱单元,再对各个脆弱单元进行故障检测,建立压缩感知方程并求解,进而定位出发生随机硬件故障的脆弱单元,因此本发明方法可以实现少量的观测次数揭示车规级芯片内部存在的安全漏洞,取得对芯片功能的准确评估结果,提高了芯片检测的准确性和检测效率。

    芯片单粒子效应探测方法及装置

    公开(公告)号:CN106199392B

    公开(公告)日:2019-02-12

    申请号:CN201610480725.4

    申请日:2016-06-27

    Abstract: 本发明公开了一种芯片单粒子效应探测方法及装置,其中方法包括:将待测芯片放入测试机台,触发待测芯片产生单粒子效应;利用使能信号随机关断待测芯片的扫描寄存器,形成随机观测矩阵;向待测芯片输入测试向量,获得待测芯片的输出测试向量,根据输出测试向量获得错误总数向量;对错误总数向量进行压缩感知信号重构,确定待测芯片内部敏感区域。本发明可以高效、便捷地对芯片单粒子效应进行探测。

    一种车规级芯片中脆弱单元的筛选方法、系统及存储介质

    公开(公告)号:CN119558241A

    公开(公告)日:2025-03-04

    申请号:CN202411466715.6

    申请日:2024-10-21

    Abstract: 本发明提供了一种车规级芯片中脆弱单元的筛选方法、系统及存储介质,通过分析待测试车规级芯片的电路结构,提取出与预设安全目标相关联的电路模块;对电路模块进行分析,识别出引发故障事件的脆弱模块,基于等价性检验的方式对筛选出的脆弱模块进行分析测试,筛选出脆弱模块中的脆弱单元。本发明方法从微观角度出发,从待测试的车规级芯片的电路结构中提取出可能会发生故障的脆弱模块,对脆弱模块进行形式化分析,筛选出脆弱单元,从而实现高效和完备的识别出芯片电路中的安全薄弱点,为车规级芯片有针对性的安全设计加固及安全性能提高,提供了技术支持。

    一种检测诱导错误攻击下安全芯片安全性能的系统

    公开(公告)号:CN103530566A

    公开(公告)日:2014-01-22

    申请号:CN201310495702.7

    申请日:2013-10-21

    CPC classification number: G06F21/72 G06F21/76

    Abstract: 本发明涉及一种检测诱导错误攻击下安全芯片安全性能的系统,包括控制安全芯片加解密功能单元在诱导错误攻击下进行加解密运算的控制单元;读取加解密运算结果并与其内置的参考结果比较的结果分析单元以及在控制单元控制下对安全芯片进行诱导错误攻击的攻击设备。因此,本发明通过控制单元将安全芯片与攻击设备结合在一起,并通过结果分析单元分析诱导错误攻击下加解密功能单元的运算结果,并在加解密运算结果产生错误后,通过控制单元控制攻击设备定位诱导错误攻击在安全芯片上的位置的坐标为故障点坐标,从而提供出一种能够对安全芯片的安全性能进行有效检测并定位故障点的系统。

    一种传感器攻击的检测定位方法、装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN117589220A

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202311555154.2

    申请日:2023-11-21

    Abstract: 本发明涉及无人驾驶技术领域,公开了一种传感器攻击的检测定位方法、装置、设备及介质,包括:对获取的多种传感器的目标检测结果进行的分析获得目标的跟踪标识、观测角度、横摆角和与多种传感器对应的多个检测框;选取不同传感器对应的检测框计算不同传感器之间的不一致性,获得多个不一致性;将上一时刻的跟踪标识、观测角度、横摆角和多个不一致性输入至基于高斯过程的不一致性估计模型,获得当前时刻多个不一致性的置信空间;判断当前时刻多个不一致性是否处于置信空间之内,来检测传感器是否受到攻击,并对攻击进行定位。本发明能够减少模型建模时间和计算资源的消耗,提高模型的鲁棒性,对多个传感器的攻击进行有效实时攻击检测和定位。

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