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发明公开
一种ZYNQ芯片电离总剂量辐照实验系统及试验方法审中-实审

公开(公告)号：CN119535165A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411670226.2

申请日：2024-11-21

Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所

Inventor： 李豫东 , 黄开 , 冯婕 , 施炜雷 , 文林 , 郭旗

IPC: G01R31/28 , G01R1/04 , G01R1/02

Abstract: 本发明公开了一种ZYNQ芯片电离总剂量辐照实验系统及试验方法，该系统包括ZYNQ电离总剂量辐照试验板、稳压电源、示波器和控制计算机；控制计算机与ZYNQ电离总剂量辐照试验板相连，用以控制ZYNQ电离总剂量辐照试验板在试验中的相关测试程序，并接收实时的试验信息数据；供电电源与ZYNQ电离总剂量辐照试验板连接并监测电压与功耗电流；示波器与ZYNQ电离总剂量辐照试验板连接并监测输出波形。能够在上装至具体的设备前对ZYNQ芯片进行辐照能力测试，避免对其应用产生影响。在辐照源外进行在线测量，能得到准确的ZYNQ的测试参数。

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