一种用于半导体量子计算的应变纯化硅衬底及其形成方法

    公开(公告)号:CN112582257B

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202011321947.4

    申请日:2020-11-23

    Abstract: 本发明公开了一种用于半导体量子计算的应变纯化硅衬底及其形成方法,属于半导体技术领域,用以解决现有技术中外延纯化硅受衬底自然硅同位素成分的影响较大、纯化硅的电子迁移率较低的问题。本发明的纯化硅锗衬底包括依次层叠的自然硅支撑衬底、绝缘层、纯化硅锗层和纯化硅层。本发明的形成方法为在基础衬底上外延形成多层硅锗缓冲层和纯化硅锗层,得到施主衬底;提供一自然硅支撑衬底;在施主衬底和/或自然硅支撑衬底上形成至少一层绝缘层;将施主衬底与自然硅支撑衬底键合,去除基础衬底和多层硅锗缓冲层或去除基础衬底、多层硅锗缓冲层和部分纯化硅锗层,得到纯化硅锗衬底;在纯化硅锗衬底上外延形成纯化硅层,得到应变纯化硅衬底。本发明的纯化硅锗衬底及其形成方法可用于半导体量子计算。

    一种半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN111599757B

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202010494852.6

    申请日:2020-06-03

    Abstract: 本申请实施例提供了一种半导体器件及其制造方法,在衬底上可以形成介质层,在介质层中形成第一堆叠层和第二堆叠层,第一堆叠层和第二堆叠层的材料不完全相同,第一堆叠层和第二堆叠层之间的介质层可以作为隔离层,第一堆叠层形成于纵向贯穿介质层的第一通孔中,包括第一掺杂材料层、第一沟道层和第二掺杂材料层,第二堆叠层形成于纵向贯穿介质层的第二通孔中,包括第三掺杂材料层、第二沟道层和第四掺杂材料层,之后,可以在第一堆叠层中形成第一器件,以及在第二堆叠层中形成第二器件。衬底上可以包括不同材料构成的第一器件和第二器件,因此能够提供多样化的器件结构,更能满足用户需求。

    一种用于半导体量子计算的应变纯化硅衬底及其形成方法

    公开(公告)号:CN112582256A

    公开(公告)日:2021-03-30

    申请号:CN202011321703.6

    申请日:2020-11-23

    Abstract: 本发明公开了一种用于半导体量子计算的应变纯化硅衬底及其形成方法,属于半导体技术领域,用以解决现有技术中外延纯化硅受衬底自然硅同位素成分的影响较大、纯化硅层电子迁移率较小的问题。应变纯化硅衬底包括自然硅衬底、绝缘层和应变纯化硅层,应变纯化硅层中引入张应力。形成方法为在基础衬底上外延形成多层硅锗缓冲层,多层硅锗缓冲层中的锗掺杂浓度逐渐增加,在硅锗缓冲层上形成应变纯化硅层,得到施主衬底;提供自然硅衬底;在施主衬底和/或自然硅衬底上形成绝缘层;将施主衬底与自然硅衬底键合,去除硅锗缓冲层和基础衬底,得到应变纯化硅衬底。该应变纯化硅衬底和形成方法可用于半导体量子计算。

    半导体结构与其制作方法

    公开(公告)号:CN108807279B

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN201810664793.5

    申请日:2018-06-25

    Abstract: 本申请提供了一种半导体结构与其制作方法。该半导体结构的制作方法包括:步骤S1,形成具有凹槽的基底,基底包括衬底与介电层;步骤S2,在凹槽中设置半导体材料,形成纳米线;步骤S3,在纳米线的裸露表面上以及介电层的裸露表面设置结构层,纳米线的材料与结构层的材料相同的制作方法中,在基底中形成凹槽,然后在凹槽中填充半导体材料,形成纳米线,该纳米线的材料与结构层的材料相同,这样该纳米线实际上作为该结构层的种子层,使得后续生长得到的结构层的缺陷较少,质量较好,进一步保证了该半导体结构具有良好的性能。

    一种波导型光电探测器及制造方法

    公开(公告)号:CN111933753A

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN202010818164.0

    申请日:2020-08-14

    Abstract: 本发明提供一种波导型光电探测器及制造方法,第一衬底的正面形成有包覆层,包覆层中形成有氮化硅光波导,第二衬底的正面形成有锗外延层,第一衬底和第二衬底的正面键合之后,从第二衬底的背面进行减薄,以暴露锗外延层,而后在锗外延层上形成光电探测器,从而实现氮化硅光波导与锗基探测器的集成。由于氮化硅光波导具有较低的传输损耗,能够提高光的传输效率,同时氮化硅波导与锗基光电探测器之间能形成高质量的氮化硅/锗界面,提高光电探测器的响应度以及光电转换能力。

    一种半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN111599760A

    公开(公告)日:2020-08-28

    申请号:CN202010495600.5

    申请日:2020-06-03

    Abstract: 本申请实施例提供了一种半导体器件及其制造方法,在衬底上可以形成介质层,在介质层中形成第一堆叠层和第二堆叠层,第一堆叠层和第二堆叠层的材料不完全相同,第一堆叠层形成于纵向贯穿介质层的第一通孔中,包括第一掺杂材料层、第一沟道层和第二掺杂材料层,第二堆叠层形成于纵向贯穿介质层的第二通孔中,包括第三掺杂材料层、第二沟道层和第四掺杂材料层,之后,可以在第一堆叠层中形成第一器件,以及在第二堆叠层中形成第二器件。这样,源漏之间存在纵向的沟道层,沟道层的长度与膜层的厚度相关,无需高成本高精度的刻蚀,因此能够利用较低的成本和简易的工艺得到小尺寸高性能的器件,此外,能够提供多样化的器件结构,更能满足用户需求。

    一种波导集成型光电探测器及其制作方法

    公开(公告)号:CN111446309A

    公开(公告)日:2020-07-24

    申请号:CN202010206294.9

    申请日:2020-03-23

    Abstract: 本发明公开一种波导集成型光电探测器及其制作方法,涉及光电技术领域。所述波导集成型光电探测器包括衬底、至少一条光波导、以及光电转换结构。光波导形成在衬底上方。每条光波导包括导向部。导向部具有多个导向结构,多个导向结构中的至少两个沿着衬底的厚度方向分布,相邻两个导向结构在衬底上的正投影边缘接合。光电转换结构形成在光波导背离衬底的上方。本发明提供的波导集成型光电探测器中导向部包括呈台阶状分布的多个导向结构。多个导向结构可以对光线进行传输和导向,使得这些光线可以导入至光电转换结构,完成光电转换过程,从而实现由波导材料形成的光波导与光电转换结构的集成化,提高波导集成型光电探测器的单片集成度。

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