基于SOI衬底的横向纳米线叉指结构晶体管及制备方法

    公开(公告)号:CN104992972B

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201510245793.8

    申请日:2015-05-14

    Abstract: 一种基于SOI衬底的横向纳米线叉指结构晶体管,包括:一SOI衬底;一源区、一漏区和多根硅纳米线,该多根硅纳米线位于SOI衬底的顶层硅上,交替连接该源区和漏区并形成叉指结构;多根III‑V族纳米线桥接在多根硅纳米线的侧壁硅晶面上;一SiO2缓冲层制作于该源区、漏区与多根硅纳米线的表面;一绝缘介质层制作于该多根III‑V族纳米线和该SiO2缓冲层的表面,并完全包裹住该多根III‑V族纳米线;一源电极制作于该源区的上面;一漏电极制作于该漏区的上面;以及一栅电极制作于该多根硅纳米线和多根III‑V族纳米线上,包裹住该多根硅纳米线和多根III‑V族纳米线。本发明可以提高III‑V族纳米线的成核率。

    SOI叉指结构衬底Ⅲ-Ⅴ族材料沟道薄膜晶体管及制备方法

    公开(公告)号:CN105070763A

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201510433864.7

    申请日:2015-07-22

    CPC classification number: H01L29/78696 H01L29/66742

    Abstract: 一种SOI叉指结构衬底的III-V族材料沟道薄膜晶体管,包括:一SOI衬底,其顶层硅上的一侧包括一源区,另一侧为漏区,中间为叉指结构的硅亚微米线;一绝缘介质层制作在该源区和漏区的表面,该源区和漏区上的绝缘介质层上分别开有电极窗口;一III-V族材料薄膜制作在叉指结构的硅亚微米线上;一栅介质层制作在该III-V族材料薄膜的表面;一源电极制作在该源区电极窗口内,该源电极与SOI衬底的顶层硅接触;一漏电极制作在该漏区介质层窗口内,该漏电极与SOI衬底的顶层硅接触;以及一栅电极,该栅电极制作于栅介质层上。本发明可以实现平面薄膜晶体管的制备。

    基于SOI衬底的横向纳米线叉指结构晶体管及制备方法

    公开(公告)号:CN104992972A

    公开(公告)日:2015-10-21

    申请号:CN201510245793.8

    申请日:2015-05-14

    CPC classification number: H01L29/775 H01L21/02603 H01L29/66469

    Abstract: 一种基于SOI衬底的横向纳米线叉指结构晶体管,包括:一SOI衬底;一源区、一漏区和多根硅纳米线,该多根硅纳米线位于SOI衬底的顶层硅上,交替连接该源区和漏区并形成叉指结构;多根III-V族纳米线桥接在多根硅纳米线的侧壁硅晶面上;一SiO2缓冲层制作于该源区、漏区与多根硅纳米线的表面;一绝缘介质层制作于该多根III-V族纳米线和该SiO2缓冲层的表面,并完全包裹住该多根III-V族纳米线;一源电极制作于该源区的上面;一漏电极制作于该漏区的上面;以及一栅电极制作于该多根硅纳米线和多根III-V族纳米线上,包裹住该多根硅纳米线和多根III-V族纳米线。本发明可以提高III-V族纳米线的成核率。

    SOI叉指结构衬底Ⅲ‑Ⅴ族材料沟道薄膜晶体管及制备方法

    公开(公告)号:CN105070763B

    公开(公告)日:2017-10-03

    申请号:CN201510433864.7

    申请日:2015-07-22

    Abstract: 一种SOI叉指结构衬底的III‑V族材料沟道薄膜晶体管,包括:一SOI衬底,其顶层硅上的一侧包括一源区,另一侧为漏区,中间为叉指结构的硅亚微米线;一绝缘介质层制作在该源区和漏区的表面,该源区和漏区上的绝缘介质层上分别开有电极窗口;一III‑V族材料薄膜制作在叉指结构的硅亚微米线上;一栅介质层制作在该III‑V族材料薄膜的表面;一源电极制作在该源区电极窗口内,该源电极与SOI衬底的顶层硅接触;一漏电极制作在该漏区介质层窗口内,该漏电极与SOI衬底的顶层硅接触;以及一栅电极,该栅电极制作于栅介质层上。本发明可以实现平面薄膜晶体管的制备。

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