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公开(公告)号:CN104992972B
公开(公告)日:2017-10-24
申请号:CN201510245793.8
申请日:2015-05-14
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L29/775 , H01L21/335 , H01L21/02
Abstract: 一种基于SOI衬底的横向纳米线叉指结构晶体管,包括:一SOI衬底;一源区、一漏区和多根硅纳米线,该多根硅纳米线位于SOI衬底的顶层硅上,交替连接该源区和漏区并形成叉指结构;多根III‑V族纳米线桥接在多根硅纳米线的侧壁硅晶面上;一SiO2缓冲层制作于该源区、漏区与多根硅纳米线的表面;一绝缘介质层制作于该多根III‑V族纳米线和该SiO2缓冲层的表面,并完全包裹住该多根III‑V族纳米线;一源电极制作于该源区的上面;一漏电极制作于该漏区的上面;以及一栅电极制作于该多根硅纳米线和多根III‑V族纳米线上,包裹住该多根硅纳米线和多根III‑V族纳米线。本发明可以提高III‑V族纳米线的成核率。
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公开(公告)号:CN105070763A
公开(公告)日:2015-11-18
申请号:CN201510433864.7
申请日:2015-07-22
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L29/786 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/78696 , H01L29/66742
Abstract: 一种SOI叉指结构衬底的III-V族材料沟道薄膜晶体管,包括:一SOI衬底,其顶层硅上的一侧包括一源区,另一侧为漏区,中间为叉指结构的硅亚微米线;一绝缘介质层制作在该源区和漏区的表面,该源区和漏区上的绝缘介质层上分别开有电极窗口;一III-V族材料薄膜制作在叉指结构的硅亚微米线上;一栅介质层制作在该III-V族材料薄膜的表面;一源电极制作在该源区电极窗口内,该源电极与SOI衬底的顶层硅接触;一漏电极制作在该漏区介质层窗口内,该漏电极与SOI衬底的顶层硅接触;以及一栅电极,该栅电极制作于栅介质层上。本发明可以实现平面薄膜晶体管的制备。
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公开(公告)号:CN104992972A
公开(公告)日:2015-10-21
申请号:CN201510245793.8
申请日:2015-05-14
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L29/775 , H01L21/335 , H01L21/02
CPC classification number: H01L29/775 , H01L21/02603 , H01L29/66469
Abstract: 一种基于SOI衬底的横向纳米线叉指结构晶体管,包括:一SOI衬底;一源区、一漏区和多根硅纳米线,该多根硅纳米线位于SOI衬底的顶层硅上,交替连接该源区和漏区并形成叉指结构;多根III-V族纳米线桥接在多根硅纳米线的侧壁硅晶面上;一SiO2缓冲层制作于该源区、漏区与多根硅纳米线的表面;一绝缘介质层制作于该多根III-V族纳米线和该SiO2缓冲层的表面,并完全包裹住该多根III-V族纳米线;一源电极制作于该源区的上面;一漏电极制作于该漏区的上面;以及一栅电极制作于该多根硅纳米线和多根III-V族纳米线上,包裹住该多根硅纳米线和多根III-V族纳米线。本发明可以提高III-V族纳米线的成核率。
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公开(公告)号:CN105070763B
公开(公告)日:2017-10-03
申请号:CN201510433864.7
申请日:2015-07-22
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L29/786 , H01L21/336
Abstract: 一种SOI叉指结构衬底的III‑V族材料沟道薄膜晶体管,包括:一SOI衬底,其顶层硅上的一侧包括一源区,另一侧为漏区,中间为叉指结构的硅亚微米线;一绝缘介质层制作在该源区和漏区的表面,该源区和漏区上的绝缘介质层上分别开有电极窗口;一III‑V族材料薄膜制作在叉指结构的硅亚微米线上;一栅介质层制作在该III‑V族材料薄膜的表面;一源电极制作在该源区电极窗口内,该源电极与SOI衬底的顶层硅接触;一漏电极制作在该漏区介质层窗口内,该漏电极与SOI衬底的顶层硅接触;以及一栅电极,该栅电极制作于栅介质层上。本发明可以实现平面薄膜晶体管的制备。
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公开(公告)号:CN105185823A
公开(公告)日:2015-12-23
申请号:CN201510490086.5
申请日:2015-08-11
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L29/66 , H01L29/06 , H01L29/423 , H01L21/683 , B82Y40/00
CPC classification number: H01L29/66522 , B82Y40/00 , H01L21/6836 , H01L29/0673 , H01L29/4236 , H01L29/66568 , H01L2221/68386
Abstract: 本发明涉及晶体管的制备方法,特别涉及一种围栅无结纳米线晶体管的制备方法。采用MOCVD在III-V族材料上外延生长掺杂的纳米线阵列,并通过热剥离胶带和固定面板将纳米线转移,在硅基衬底上制备围栅结构的无结纳米线晶体管。本发明提供的这种围栅无结纳米线晶体管的制备方法,可以实现III-V族材料纳米线与平面硅工艺的兼容,同时有效抑制迁移率退化,提升晶体管的电流驱动能力。
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公开(公告)号:CN104934479A
公开(公告)日:2015-09-23
申请号:CN201510236328.8
申请日:2015-05-11
Applicant: 中国科学院半导体研究所
CPC classification number: H01L29/78 , B82Y40/00 , H01L21/02488 , H01L21/7624 , H01L29/0684 , H01L29/1033 , H01L29/66469
Abstract: 一种基于SOI衬底的III-V族纳米线平面晶体管及制备方法,该晶体管,包括:一SOI衬底;一源区和一漏区,该源区和漏区形成在SOI衬底上;多根III-V族纳米线,该多根III-V族纳米线连接源区与漏区;一SiO2缓冲层,该SiO2缓冲层制作于该源区与漏区的表面;一绝缘介质层,该绝缘介质层制作于该多根III-V族纳米线和该SiO2缓冲层的表面,并完全包裹住该多根III-V族纳米线;一源电极,该源电极制作于该源区的上面;一漏电极,该漏电极制作于该漏区的上面;以及一栅电极,该栅电极制作于该源区与漏区之间的多根III-V族纳米线上,包裹住该多根III-V族纳米线。本发明可实现平面纳米线晶体管的制备。
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