公开(公告)号：CN110031980A

公开(公告)日：2019-07-19

申请号：CN201910268349.6

申请日：2019-04-04

Applicant: 中国科学院光电技术研究所

Inventor： 杜俊峰 ,  周建伟 ,  张殷华 ,  王中科 ,  温正明

IPC: G02B27/10 ,  G02B17/02 ,  G02B17/06

Abstract: 本发明公开了一种“四光合一”的光谱分光结构，用于将远距离目标的可见、近红外、中波红外、长波红外4个光学谱段同时成像在相应的探测器上，实现对目标的可靠探测和充分识别。整个光路具体有三大部分组成，主光学系统第一次成像；分色镜和反射镜进行光谱分光和光路折转；各谱段后成像光学实现各谱段二次成像。本发明实现了四个谱段的分光方式和结构布局，具有结构紧凑，镀膜工艺成熟、分光效率高；系统各谱段光学透过率高、成像质量好、系统易维护的特点。

公开(公告)号：CN110823945A

公开(公告)日：2020-02-21

申请号：CN201911113246.9

申请日：2019-11-14

Applicant: 中国科学院光电技术研究所

Inventor： 田晓习 ,  熊胜明 ,  高卫东 ,  张殷华

IPC: G01N25/16

Abstract: 本发明公开了一种基于椭偏仪的光学薄膜热膨胀系数测量装置及其测量方法，该测量装置包括椭偏仪、样品夹具组件、红外加热灯、热电偶组件、计算机。本发明光学薄膜热膨胀系数测量装置利用椭偏仪对光学薄膜厚度的精确测量，测量光学薄膜加温后的纳米级的变化，使测量微米级光学薄膜样品的热膨胀系数得以实现。本发明针对传统的材料热膨胀系数的测量方法不可测量纳米级位移的缺陷，设计出一种利用椭偏仪测量微小位移的实验装置。其操作简单，调节方便，可测量微米级样品的热膨胀系数，进而满足光学薄膜对微小尺寸的测试需求。