一种将空间载频相移算法用于四波横向剪切干涉仪波前斜率解调的方法

    公开(公告)号:CN110081988B

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN201910274361.8

    申请日:2019-04-08

    Abstract: 本发明涉及一种将空间载频相移算法用于四波横向剪切干涉仪波前斜率解调的方法,属于光学检测领域。该方法将空间载频相移算法用于四波横向剪切干涉仪波前斜率的解调,以最终实现全口径、高精度的动态波前测量。具体通过控制光栅周期与图像传感器像素尺寸之间的关系,来控制载波条纹相邻像素之间的相移量,并最终选择合适的相移算法实现波前斜率的解调。相比于传统四波横向剪切干涉仪利用快速傅里叶变换方法(Fast Fourier Transform,FFT)解调波前斜率,本方法计算过程简单,不存在FFT方法涉及的频谱截断与边缘效应,可以实现高精度的全口径动态波前测量。

    一种装卡光学元件的力反馈精密支撑装置

    公开(公告)号:CN103885302B

    公开(公告)日:2016-03-30

    申请号:CN201410135683.1

    申请日:2014-04-04

    Abstract: 本发明涉及一种装卡光学元件的力反馈精密支撑装置,该装置包括基座(1)、主支撑(2)、辅助支撑(3)和控制系统(4)。主支撑(2)和辅助支撑(3)环绕排列,固定在基座(1)上。主支撑(2)为三个刚性支点;若干辅助支撑(3)均匀分布在主支撑(2)之间,可以上下运动。所述辅助支撑(3)具体包括辅助支撑支架、顶升器、柔性件、力传感器。本发明采用控制系统控制顶升器动作,推动柔性件产生变形,带动辅助支撑点运动;由力传感器反馈获取支撑力,并能够通过对各辅助支撑力的闭环控制来实现对光学元件的低形变、稳定支撑。

    基于FPGA的高速存储与传输装置

    公开(公告)号:CN101833424B

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN201010134925.7

    申请日:2010-03-26

    Abstract: 本发明提供一种基于FPGA的高速存储或读取数据的方法及装置,所述方法及装置属于计算机领域和存储领域,该装置包括:RAID控制器(1),SATA控制器组(2),多端口存储器控制器组(3),输入输出模块(4),RocketIO(5),嵌入式处理器(6),存储器控制器模块(7),存储单元_1(8),存储单元_2(9),磁盘阵列(10),FPGA加载、配置模块(11)。其中模块1-7是在FPGA中实现的,模块1-4通过PLB总线与嵌入式处理器相连。嵌入式处理器作为核心处理单元,协调控制整个系统工作。该装置可以同时控制多个硬盘,通过软件配置可以实现RAID0和RAID1。该装置具有camlink接口,PCIE接口和光纤接口。该装置减少了外围ASIC芯片和PCB面积,具有小型化,低功耗,应用广的优点。

    一种将空间载频相移算法用于四波横向剪切干涉仪波前斜率解调的方法

    公开(公告)号:CN110081988A

    公开(公告)日:2019-08-02

    申请号:CN201910274361.8

    申请日:2019-04-08

    Abstract: 本发明涉及一种将空间载频相移算法用于四波横向剪切干涉仪波前斜率解调的方法,属于光学检测领域。该方法将空间载频相移算法用于四波横向剪切干涉仪波前斜率的解调,以最终实现全口径、高精度的动态波前测量。具体通过控制光栅周期与图像传感器像素尺寸之间的关系,来控制载波条纹相邻像素之间的相移量,并最终选择合适的相移算法实现波前斜率的解调。相比于传统四波横向剪切干涉仪利用快速傅里叶变换方法(Fast Fourier Transform,FFT)解调波前斜率,本方法计算过程简单,不存在FFT方法涉及的频谱截断与边缘效应,可以实现高精度的全口径动态波前测量。

    一种用共焦显微镜系统测量手机面板厚度的方法与装置

    公开(公告)号:CN109357623A

    公开(公告)日:2019-02-19

    申请号:CN201811383822.7

    申请日:2018-11-16

    Inventor: 张娟 吴永前

    Abstract: 本发明公开了一种用共焦显微镜系统测量手机面板厚度的方法与装置,属于光学检测领域。该方法是基于共焦显微成像原理的基础上,利用其轴向层析特性,并结合高精度位移平台使被测手机面板的上、下表面分别与显微物镜焦平面重合,然后通过探测器接收到被测手机面板上、下表面反射光信号;在探测器接收到两次光信号的时间间隔内,根据位移平台的位移量就可以计算被测手机面板的厚度。该方法的特点是:通用性强、分辨率高、测量范围匹配目前市面上手机面板材料的厚度范围(0.3mm-0.5mm),实现了非接触式、高精度测量手机面板的厚度。

    基于FPGA的高速存储与传输装置

    公开(公告)号:CN101833424A

    公开(公告)日:2010-09-15

    申请号:CN201010134925.7

    申请日:2010-03-26

    Abstract: 本发明提供一种基于FPGA的高速存储或读取数据的方法及装置,所述方法及装置属于计算机领域和存储领域,该装置包括:RAID控制器(1),SATA控制器组(2),多端口存储器控制器组(3),输入输出模块(4),RocketIO(5),嵌入式处理器(6),存储器控制器模块(7),存储单元_1(8),存储单元_2(9),磁盘阵列(10),FPGA加载、配置模块(11)。其中模块1-7是在FPGA中实现的,模块1-4通过PLB总线与嵌入式处理器相连。嵌入式处理器作为核心处理单元,协调控制整个系统工作。该装置可以同时控制多个硬盘,通过软件配置可以实现RAID0和RAID1。该装置具有camlink接口,PCIE接口和光纤接口。该装置减少了外围ASIC芯片和PCB面积,具有小型化,低功耗,应用广的优点。

    一种装卡光学元件的力反馈精密支撑装置

    公开(公告)号:CN103885302A

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201410135683.1

    申请日:2014-04-04

    Abstract: 本发明涉及一种装卡光学元件的力反馈精密支撑装置,该装置包括基座(1)、主支撑(2)、辅助支撑(3)和控制系统(4)。主支撑(2)和辅助支撑(3)环绕排列,固定在基座(1)上。主支撑(2)为三个刚性支点;若干辅助支撑(3)均匀分布在主支撑(2)之间,可以上下运动。所述辅助支撑(3)具体包括辅助支撑支架、顶升器、柔性件、力传感器。本发明采用控制系统控制顶升器动作,推动柔性件产生变形,带动辅助支撑点运动;由力传感器反馈获取支撑力,并能够通过对各辅助支撑力的闭环控制来实现对光学元件的低形变、稳定支撑。

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