公开(公告)号：CN114154523B

公开(公告)日：2024-06-14

申请号：CN202111243216.7

申请日：2021-10-25

Applicant: 中国科学院信息工程研究所

Inventor： 黄伟庆 ,  金标 ,  商敬曼 ,  林春慧 ,  王思叶 ,  张艳芳 ,  冯越

IPC: G06K7/10

Abstract: 本发明提供一种克隆标签的检测方法及装置。所述方法包括：基于预定义的异常概率函数，确定在每个标签对应的轨迹序列中，每个所述标签在任意两个连续的检测点间的异常概率；遍历每个所述标签对应的轨迹序列，若所述标签在所有两个连续的所述检测点间的异常概率之和超过预设阈值，则所述标签为克隆标签。本发明提供的克隆标签的检测方法，通过预定义的异常概率函数，确定每个标签在对应轨迹序列中任意连续检测点间的异常概率，判断所述标签是否为克隆标签，检测的准确率和精度更高，在实际环境中更具有优势。

公开(公告)号：CN114154523A

公开(公告)日：2022-03-08

申请号：CN202111243216.7

申请日：2021-10-25

Applicant: 中国科学院信息工程研究所

Inventor： 黄伟庆 ,  金标 ,  商敬曼 ,  林春慧 ,  王思叶 ,  张艳芳 ,  冯越

IPC: G06K7/10

Abstract: 本发明提供一种克隆标签的检测方法及装置。所述方法包括：基于预定义的异常概率函数，确定在每个标签对应的轨迹序列中，每个所述标签在任意两个连续的检测点间的异常概率；遍历每个所述标签对应的轨迹序列，若所述标签在所有两个连续的所述检测点间的异常概率之和超过预设阈值，则所述标签为克隆标签。本发明提供的克隆标签的检测方法，通过预定义的异常概率函数，确定每个标签在对应轨迹序列中任意连续检测点间的异常概率，判断所述标签是否为克隆标签，检测的准确率和精度更高，在实际环境中更具有优势。