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公开(公告)号：CN114548130A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202210067259.2
申请日：2022-01-20
Applicant: 中国科学院信息工程研究所
Abstract: 本发明提供一种恶意RFID读写器空口入侵检测方法及装置，该方法包括：基于合法RFID读写器对待测电子标签进行充电，并在充电完成后停止充电；在停止充电时长达到所述待测电子标签的时长阈值的情况下，检测所述待测电子标签的电量是否耗尽；在所述待测电子标签的电量未耗尽的情况下，确定所述待测电子标签受到恶意RFID读写器的入侵。本发明实现在电容充放电原理的保证下，可降低环境干扰等影响，有效提高入侵检测的鲁棒性和准确性；且直接采用RFID系统自身的硬件，对电子标签内部的电量进行采集，避免使用额外的外置设备，有效降低检测成本。
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公开(公告)号：CN114154523B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202111243216.7
申请日：2021-10-25
Applicant: 中国科学院信息工程研究所
IPC: G06K7/10
Abstract: 本发明提供一种克隆标签的检测方法及装置。所述方法包括：基于预定义的异常概率函数，确定在每个标签对应的轨迹序列中，每个所述标签在任意两个连续的检测点间的异常概率；遍历每个所述标签对应的轨迹序列，若所述标签在所有两个连续的所述检测点间的异常概率之和超过预设阈值，则所述标签为克隆标签。本发明提供的克隆标签的检测方法，通过预定义的异常概率函数，确定每个标签在对应轨迹序列中任意连续检测点间的异常概率，判断所述标签是否为克隆标签，检测的准确率和精度更高，在实际环境中更具有优势。
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公开(公告)号：CN114548130B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202210067259.2
申请日：2022-01-20
Applicant: 中国科学院信息工程研究所
Abstract: 本发明提供一种恶意RFID读写器空口入侵检测方法及装置，该方法包括：基于合法RFID读写器对待测电子标签进行充电，并在充电完成后停止充电；在停止充电时长达到所述待测电子标签的时长阈值的情况下，检测所述待测电子标签的电量是否耗尽；在所述待测电子标签的电量未耗尽的情况下，确定所述待测电子标签受到恶意RFID读写器的入侵。本发明实现在电容充放电原理的保证下，可降低环境干扰等影响，有效提高入侵检测的鲁棒性和准确性；且直接采用RFID系统自身的硬件，对电子标签内部的电量进行采集，避免使用额外的外置设备，有效降低检测成本。
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公开(公告)号：CN114154523A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111243216.7
申请日：2021-10-25
Applicant: 中国科学院信息工程研究所
IPC: G06K7/10
Abstract: 本发明提供一种克隆标签的检测方法及装置。所述方法包括：基于预定义的异常概率函数，确定在每个标签对应的轨迹序列中，每个所述标签在任意两个连续的检测点间的异常概率；遍历每个所述标签对应的轨迹序列，若所述标签在所有两个连续的所述检测点间的异常概率之和超过预设阈值，则所述标签为克隆标签。本发明提供的克隆标签的检测方法，通过预定义的异常概率函数，确定每个标签在对应轨迹序列中任意连续检测点间的异常概率，判断所述标签是否为克隆标签，检测的准确率和精度更高，在实际环境中更具有优势。
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