公开(公告)号：CN100559168C

公开(公告)日：2009-11-11

申请号：CN200810035500.3

申请日：2008-04-02

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 陆卫 ,  杨希峰 ,  陈平平 ,  李天信 ,  甄红楼 ,  张波 ,  李宁 ,  李志锋 ,  陈效双

IPC: G01N21/64 ,  G01B11/00 ,  G06F17/10

Abstract: 本发明公开了一种利用荧光光谱测量半导体量子点尺寸分布的方法。该方法通过实测半导体多量子点体系的PL谱；从有效质量近似下的含时微扰的薛定谔方程出发，计算半导体多量子点的PL谱；而后通过理论和实验PL谱对照获得量子点的尺寸分布，其中，PL谱的中心波长对应占比率最大的量子点的复合发光，而PL谱的形状对应尺寸的分布规律。本发明操作简便，耗时短；可以明确获得半导体多量子点体系的尺寸分布。

公开(公告)号：CN101251485A

公开(公告)日：2008-08-27

申请号：CN200810035500.3

申请日：2008-04-02

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 陆卫 ,  杨希峰 ,  陈平平 ,  李天信 ,  甄红楼 ,  张波 ,  李宁 ,  李志锋 ,  陈效双

IPC: G01N21/64 ,  G01B11/00 ,  G06F17/10

Abstract: 本发明公开了一种利用荧光光谱测量半导体量子点尺寸分布的方法。该方法通过实测半导体多量子点体系的PL谱；从有效质量近似下的含时微扰的薛定谔方程出发，计算半导体多量子点的PL谱；而后通过理论和实验PL谱对照获得量子点的尺寸分布，其中，PL谱的中心波长对应占比率最大的量子点的复合发光，而PL谱的形状对应尺寸的分布规律。本发明操作简便，耗时短；可以明确获得半导体多量子点体系的尺寸分布。