公开(公告)号：CN119374867B

公开(公告)日：2025-05-13

申请号：CN202411906797.1

申请日：2024-12-24

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 夏辉 ,  孙聊新 ,  李天信 ,  张博 ,  于春蕾

IPC: G01M11/02 ,  G01N27/26

Abstract: 本申请公开了一种探测器截面光响应分布检测方法及系统，涉及探测器的量测领域，该方法包括：采用解离工艺制备探测器的解离面；采用光诱导电流技术检测所述探测器的解离面的光生电流分布特征，以确定探测器截面的光响应分布。本申请在对探测器解离后未引入额外的漏电通道，将探测器的功能结构完全暴露的同时，保证探测器能正常工作，进而能够在探测器工作状态下提取其截面的光生电流分布特征。

公开(公告)号：CN119374867A

公开(公告)日：2025-01-28

申请号：CN202411906797.1

申请日：2024-12-24

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 夏辉 ,  孙聊新 ,  李天信 ,  张博 ,  于春蕾

IPC: G01M11/02 ,  G01N27/26

Abstract: 本申请公开了一种探测器截面光响应分布检测方法及系统，涉及探测器的量测领域，该方法包括：采用解离工艺制备探测器的解离面；采用光诱导电流技术检测所述探测器的解离面的光生电流分布特征，以确定探测器截面的光响应分布。本申请在对探测器解离后未引入额外的漏电通道，将探测器的功能结构完全暴露的同时，保证探测器能正常工作，进而能够在探测器工作状态下提取其截面的光生电流分布特征。