一种用于隔离循环制冷对红外探测噪声影响的中空冷平台结构

    公开(公告)号:CN118263341A

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202410347032.2

    申请日:2024-03-26

    Abstract: 本发明公开了一种用于隔离循环制冷对红外探测噪声影响的中空冷平台结构。本发明的用于隔离循环制冷对红外探测噪声影响的中空冷平台结构由冷平台基台上增加冷平台中空凸台和冷平台通气槽结构组成。该中空隔离结构置于芯片组和制冷机内管之间,形成胶结或一体加工成形的中空冷平台。由于冷平台中心部分不与探测器光敏区域面接触,将探测器相关区域和制冷机冷端进行物理隔离。本发明解决了弱信号长积分时间探测时,传统冷平台结构的周期循环制冷对探测器部分位置光敏元噪声影响的问题。本发明的结构简单,操作方便。本发明适用于集成曲柄连杆制冷机的红外探测器封装结构,也适用于其它斯特林循环低温制冷机与长积分时间探测的探测器集成封装。

    一种高光谱图像非均匀性校正方法

    公开(公告)号:CN111076815B

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN201911124467.6

    申请日:2019-11-18

    Abstract: 本发明公开了一种高光谱图像非均匀性校正的方法,本发明首先获取成像光谱仪数据并进行数据预处理,然后对数据进行分布统计,利用不同分布位置的数据生成辐射校正系数,最后完成高光谱图像的非均匀性校正。本发明针对缺少非均匀性校正系数或系数失效导致的图像非均匀性校正的难题,本方法基本不会造成图像信息的损失,对成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。

    一种高光谱图像非均匀性校正方法

    公开(公告)号:CN111076815A

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201911124467.6

    申请日:2019-11-18

    Abstract: 本发明公开了一种高光谱图像非均匀性校正的方法,本发明首先获取成像光谱仪数据并进行数据预处理,然后对数据进行分布统计,利用不同分布位置的数据生成辐射校正系数,最后完成高光谱图像的非均匀性校正。本发明针对缺少非均匀性校正系数或系数失效导致的图像非均匀性校正的难题,本方法基本不会造成图像信息的损失,对成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。

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