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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109632685B
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN201910021592.8
申请日：2019-01-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/3504
Abstract: 本发明公开了一种基于双波段差分红外成像系统的工业气体排放探测方法，本发明基于气体分子振动而形成特有红外吸收光谱的特性，对目标场景内相邻两个极窄波段进行高灵敏度红外成像，通过差分检测实现场景内气体云团的探测。本方法具有探测距离远、作业效率高、识别精度准、全天时工作的优点，相对现有傅里叶红外光谱探测、商用可燃气体检测仪、主动激光探测等方法，能够探测气体云团的几何形态和浓度信息，并在探测效率上有明显优势。本系统稳定性强，集成度高，特别适用于工业污染气体排放监控、石油化工天然气泄漏探测、海上油田设备老化监控等领域。
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公开(公告)号：CN112082649A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010966407.5
申请日：2020-09-15
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于阵列狭缝扫描的视频高光谱成像仪，系统包括成像镜头、滤光片、阵列狭缝、高精度电控位移台、色散型光谱仪组件、探测器、数据处理系统等。将阵列狭缝固定在高精度的电控平移台上，并放置在成像镜头焦平面位置处。合理设计多条狭缝之间的间隔，探测器同时获得不同视场位置的光谱图像，通过移动位移台，实现多视场空间信息的扫描，通过合并数据得到完整的成像光谱数据。与传统的推扫式高光谱成像体制相比，本方法无需平台推扫即可实现面视场空间和光谱信息的获取，通过阵列狭缝提高单位时间内信息的获取量，进而大大提高了目标信息获取的效率。
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公开(公告)号：CN109632685A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910021592.8
申请日：2019-01-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/3504
CPC classification number: G01N21/3504
Abstract: 本发明公开了一种基于双波段差分红外成像系统的工业气体排放探测方法，本发明基于气体分子振动而形成特有红外吸收光谱的特性，对目标场景内相邻两个极窄波段进行高灵敏度红外成像，通过差分检测实现场景内气体云团的探测。本方法具有探测距离远、作业效率高、识别精度准、全天时工作的优点，相对现有傅里叶红外光谱探测、商用可燃气体检测仪、主动激光探测等方法，能够探测气体云团的几何形态和浓度信息，并在探测效率上有明显优势。本系统稳定性强，集成度高，特别适用于工业污染气体排放监控、石油化工天然气泄漏探测、海上油田设备老化监控等领域。
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公开(公告)号：CN111174914A
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN202010126503.9
申请日：2020-02-28
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于阵列狭缝扫描的视频高光谱成像仪，系统包括成像镜头、滤光片、阵列狭缝、高精度电控位移台、色散型光谱仪组件、探测器、数据处理系统等。将阵列狭缝固定在高精度的电控平移台上，并放置在成像镜头焦平面位置处。合理设计多条狭缝之间的间隔，探测器同时获得不同视场位置的光谱图像，通过移动位移台，实现多视场空间信息的扫描，通过合并数据得到完整的成像光谱数据。与传统的推扫式高光谱成像体制相比，本方法无需平台推扫即可实现面视场空间和光谱信息的获取，通过阵列狭缝提高单位时间内信息的获取量，进而大大提高了目标信息获取的效率。
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公开(公告)号：CN212539414U
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN202022010107.8
申请日：2020-09-15
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开了一种基于阵列狭缝扫描的视频高光谱成像仪，系统包括成像镜头、滤光片、阵列狭缝、高精度电控位移台、色散型光谱仪组件、探测器、数据处理系统等。将阵列狭缝固定在高精度的电控平移台上，并放置在成像镜头焦平面位置处。合理设计多条狭缝之间的间隔，探测器同时获得不同视场位置的光谱图像，通过移动位移台，实现多视场空间信息的扫描，通过合并数据得到完整的成像光谱数据。与传统的推扫式高光谱成像体制相比，本方法无需平台推扫即可实现面视场空间和光谱信息的获取，通过阵列狭缝提高单位时间内信息的获取量，进而大大提高了目标信息获取的效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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