一种基于变径圆标准孔件的旋转扫描测头的标定方法

    公开(公告)号:CN118640794A

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202410848048.1

    申请日:2024-06-27

    Abstract: 本发明公开基于变径圆标准孔件的旋转扫描测头的标定方法,将一周的测量数据作为一组,通过最小二乘拟合的方式求解半径值与标准件实际真值进行差值处理,一定程度上避免了需引入采样点圆心坐标参数进行迭代,优化了迭代参数,能够有效求解内部参数。无需测头回转轴线与变径圆标准孔件轴线完全重合,只要保证两轴线的平行,且保证在校准时不超出测头的有效测量范围,该方法均适用。另外,本发明基于变径圆标准孔件的校准方法,从该测量系统的实际应用场景设计标准件,标准圆孔更适合该类测量系统进行测量标定,同时变径的结构设计,涵盖了整个系统的测量范围,更有利于求解一个准确的结构参数。

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