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发明公开
空间辐照下电源总剂量老化耦合效应试验PCB布线方法审中-实审

公开(公告)号：CN119364657A

公开(公告)日：2025-01-24

申请号：CN202411527155.0

申请日：2024-10-30

Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所

Inventor： 杨蕊亦 , 余航 , 罗俊 , 吴兆希 , 刘倩 , 王姝雁 , 徐多 , 任李贤

IPC: H05K3/00 , H05K1/02 , H05K1/11

Abstract: 本发明公开了一种空间辐照下电源总剂量老化耦合效应试验PCB布线方法，包括：根据测试用DC/DC电源在测试时需要与外部连接的引脚设计该DC/DC电源的辐照偏置电路图；对照辐照偏置电路图设计PCB板的内部布局，并通过测试对PCB板的内部布局进行调整。本发明中，对照辐照偏置电路图设计PCB板的内部布局，并根据测试情况对PCB板的内部布局进行调整，可以规避可能的反馈耦合与寄生耦合，降低噪声与干扰，提高试验用PCB板在辐照环境下的抗干扰能力。

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