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公开(公告)号：CN111680388B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202010326257.1
申请日：2020-04-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种任务电子系统可靠性数据量化方法、装置和计算机设备。该方法包括：计算机设备通过获取系统中多个设备的地面试验可靠性数据，将地面试验可靠性数据中的非成败型数据转换为成败型数据，得到转换后的试验数据,将系统在研制阶段产生的研制数据与转换后的试验数据进行数据融合处理，得到基准环境条件下的融合数据,对基准环境条件下的融合数据与至少一个测试阶段产生的过程数据进行融合并量化，得到各测试阶段的量化结果。本方法实现了对研制阶段、测试阶段的系统可靠性水平进行跟踪评价，从而解决可靠性设计和验证工作呈现两张皮的问题，有利于在装备研制过程中及时调整可靠性计划和设立可靠性增长目标，具备良好的工程可操作性。
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公开(公告)号：CN111680392B
公开(公告)日：2024-04-23
申请号：CN202010328159.1
申请日：2020-04-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种复杂电子系统可靠性量化方法、装置和计算机设备。本方法包括：计算机设备通过根据预设的紧缩系统确定规则，构建全系统对应的紧缩系统；根据紧缩系统的设备参数和全系统的设备参数，确定紧缩系统的试验方案；根据紧缩系统的试验方案对紧缩系统进行可靠性试验，并根据可靠性试验的试验结果计算得到紧缩系统的量化值，以表征紧缩系统对应的全系统的可靠性。在本方法中，由于计算机设备根据紧缩系统的确定规则构建全系统的紧缩系统，得到的紧缩系统保留了全系统中进行可靠性量化试验必要的组成结构，从而使得紧缩系统的可靠性试验结果更加贴合全系统的可靠性试验结果，提高了可靠性试验结果的准确性。
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公开(公告)号：CN111581778B
公开(公告)日：2023-10-17
申请号：CN202010274771.5
申请日：2020-04-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06Q10/0639 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种舰船电子系统可靠性验证方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取舰船电子系统全寿命周期不同阶段的可靠性验证信息；可靠性验证信息中携带有舰船电子系统全寿命周期不同阶段的阶段标识；从预设的可靠性验证对应关系表中获取与舰船电子系统全寿命周期不同阶段的可靠性验证信息对应的多个子可靠性指标；可靠性验证对应关系表中存储有阶段标识与子可靠性指标的对应关系；获取舰船电子系统的多个子可靠性指标对应的信息权重；利用信息权重对所述舰船电子系统的多个子可靠性指标进行加权处理，得到所述舰船电子系统可靠性验证结果。采用本方法能够提高舰船电子系统的可靠性验证的准确率。
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公开(公告)号：CN111680392A
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN202010328159.1
申请日：2020-04-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种复杂电子系统可靠性量化方法、装置和计算机设备。本方法包括：计算机设备通过根据预设的紧缩系统确定规则，构建全系统对应的紧缩系统；根据紧缩系统的设备参数和全系统的设备参数，确定紧缩系统的试验方案；根据紧缩系统的试验方案对紧缩系统进行可靠性试验，并根据可靠性试验的试验结果计算得到紧缩系统的量化值，以表征紧缩系统对应的全系统的可靠性。在本方法中，由于计算机设备根据紧缩系统的确定规则构建全系统的紧缩系统，得到的紧缩系统保留了全系统中进行可靠性量化试验必要的组成结构，从而使得紧缩系统的可靠性试验结果更加贴合全系统的可靠性试验结果，提高了可靠性试验结果的准确性。
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公开(公告)号：CN111639410A
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN202010289764.2
申请日：2020-04-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/14 , G06F119/02 , G06F111/08
Abstract: 本申请涉及一种可靠性强化试验定量评估方法、装置及存储介质。其中，可靠性强化试验定量评估方法，包括步骤：确定待测电子产品的可靠性强化试验的应力类型及试验阶段，并获取可靠性强化试验的故障处理策略；故障处理策略包括故障处理方式；对待测电子产品进行可靠性强化试验，获取故障数据；基于故障处理方式和应力类型及试验阶段，采用相应的加速模型对故障数据进行外推，得到正常应力水平下的故障数据；对正常应力水平下的故障数据进行可靠性评估，得到待测电子产品的可靠性指标。本申请实现了可靠性试验数据的定量评估。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111680389B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202010326972.5
申请日：2020-04-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F111/08 , G06F115/04
Abstract: 本申请涉及一种设备寿命量化方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：计算机设备分别对设备中各器件的热疲劳失效时刻数据和振动疲劳失效时刻数据进行累积损伤分析，对各器件的累积后的热疲劳失效时刻数据和累积后的振动疲劳失效时刻数据进行故障分布拟合，得到各器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数；再对各器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数进行故障融合，得到各器件的寿命概率密度函数；最后对设备中所有器件的寿命概率密度函数进行故障融合，得到设备的寿命概率密度函数。本方法中，计算机设备可以根据设备的寿命概率密度函数获取设备的寿命量化结果，从而确定该设备的互连失效分布情况以及可靠性。
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公开(公告)号：CN111650566A
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN202010360367.X
申请日：2020-04-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01S7/40
Abstract: 本申请涉及一种雷达可靠性试验系统，包括中远场吸波通道；三综合试验箱；三综合试验箱包括用于容纳待测雷达的气候箱；气候箱包括朝向中远场吸波通道的第一内壁；第一内壁上开设有透波窗；透波板，覆盖透波窗，以密封气候箱；箱内吸波装置，铺设在吸收内壁上；吸收内壁为在待测雷达发射的电磁波向中远场吸波通道传播时，气候箱中反射电磁波的内壁。本申请可确保消除反射波，实现定向、高效吸收大功率待测雷达天线阵面辐射的电磁波能量，能够对工作在全阵面、满功率的雷达系统进行测试，避免测试环境中存在的余波对关键技术指标验证的影响，使得测试环境能够模拟、还原待测雷达的实际工作场景，进而提高了试验结果的可信性。
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公开(公告)号：CN114329989A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111660498.0
申请日：2021-12-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06Q10/06 , G06Q10/10 , G06Q50/04 , G06F111/10 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种产品通用质量特性设计与分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：获取产品使用需求信息；将每一被选中的通用质量特性类型下被选中的设计要求类型的设定数值与参考数值进行匹配，若匹配成功，则获取产品制造过程所需要执行的工作项目的项目信息；根据项目信息，模拟运行对应的产品制造过程，判断模拟运行得到的模拟运行数值是否覆盖每一被选中的通用质量特性类型下被选中的设计要求类型；若覆盖，则将模拟运行数值与对应的设定数值进行匹配；若匹配成功，则确定产品使用需求信息可行。通过充分识别产品的使用需求，并将使用需求转化为通用质量特性设计要求，能够全面地完成产品通用质量特性设计与分析。
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公开(公告)号：CN111639410B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN202010289764.2
申请日：2020-04-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/14 , G06F119/02 , G06F111/08
Abstract: 本申请涉及一种可靠性强化试验定量评估方法、装置及存储介质。其中，可靠性强化试验定量评估方法，包括步骤：确定待测电子产品的可靠性强化试验的应力类型及试验阶段，并获取可靠性强化试验的故障处理策略；故障处理策略包括故障处理方式；对待测电子产品进行可靠性强化试验，获取故障数据；基于故障处理方式和应力类型及试验阶段，采用相应的加速模型对故障数据进行外推，得到正常应力水平下的故障数据；对正常应力水平下的故障数据进行可靠性评估，得到待测电子产品的可靠性指标。本申请实现了可靠性试验数据的定量评估。
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公开(公告)号：CN111680389A
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN202010326972.5
申请日：2020-04-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F111/08 , G06F115/04
Abstract: 本申请涉及一种设备寿命量化方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：计算机设备分别对设备中各器件的热疲劳失效时刻数据和振动疲劳失效时刻数据进行累积损伤分析，对各器件的累积后的热疲劳失效时刻数据和累积后的振动疲劳失效时刻数据进行故障分布拟合，得到各器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数；再对各器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数进行故障融合，得到各器件的寿命概率密度函数；最后对设备中所有器件的寿命概率密度函数进行故障融合，得到设备的寿命概率密度函数。本方法中，计算机设备可以根据设备的寿命概率密度函数获取设备的寿命量化结果，从而确定该设备的互连失效分布情况以及可靠性。
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