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公开(公告)号：CN115238931B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202211134200.7
申请日：2022-09-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及大数据技术领域，特别是涉及一种耗损件的规划方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：确定至少两个待维修设备对应的维修数据，维修数据包括各个待维修设备的故障概率和耗损件的参考消耗数量；基于维修数据，从至少两个待维修设备中确定目标设备，并根据目标设备和维修数据，确定耗损件满足率；基于耗损件满足率和预先设定的目标满足率，确定耗损件的目标规划量。本申请实现了对于损耗件的目标规划量的确定，弥补了现有技术中缺少损耗件预测方法的缺陷，实现了预测维修待维修设备时消耗耗损件的目标规划量，实现了对于损耗件对应目标规划量的快速确定，保证了确定损耗件的目标规划量的效率。
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公开(公告)号：CN111060297B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN201911241763.4
申请日：2019-12-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种强化试验设备、方法及装置。其中，强化试验设备包括处理器，以及连接处理器的第一电磁阀、调压设备和第二电磁阀；通过第一电磁阀控制导通或关闭储气罐和环境箱之间的气路通道，用于对存放在环境箱的待测样品施加压力。处理器在检测到环境箱的温度变化量达到预设值时，指示第一电磁阀导通储气罐和环境箱之间的气路通道，并通过调压设备调节环境箱的气压值，在检测到环境箱内的气压到达预设值时，以此降低环境箱内的气压。对待测样品同时施加温度应力和交变机械应力，可以更好的激发和暴露待测样品在设计中的薄弱部分，便于针对于薄弱部分进行改进，从而提高产品的可靠性。
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公开(公告)号：CN110095360A
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201910388882.6
申请日：2019-05-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种疲劳裂纹快速不稳定扩展机理测试方法以及系统。所述方法包括在金相试样上施加循环疲劳应力，并在金相试样中的疲劳裂纹处于稳定扩展阶段时，采集在循环疲劳应力的单个载荷周期内疲劳裂纹的第一类微观形貌数据；在疲劳裂纹处于迟滞扩展阶段时，分别采集多个载荷周期内疲劳裂纹对应的第二类微观形貌数据；在疲劳裂纹处于快速扩展阶段时，分别采集多个载荷周期内疲劳裂纹对应的第三类微观形貌数据；比对第一类微观形貌数据、第二类微观形貌数据和第三类微观形貌数据中疲劳裂纹尖端周围的微观形貌得到疲劳裂纹快速不稳定扩展机理的测试结果，实现观察一个载荷周期内疲劳裂纹的快速不稳定扩展行为，提高了获取测试结果的精度。
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公开(公告)号：CN111397937A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010268266.X
申请日：2020-04-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01M99/00
Abstract: 本发明公开了一种液冷类产品可靠性强化试验方法，包括：根据液冷类产品的故障模式及敏感应力，确定通液条件和不通液条件下的可靠性强化试验项目；确定通液条件和不通液条件下的可靠性强化试验项目的试验条件；按照所确定的试验项目和试验条件，实施通液条件下的可靠性强化试验，分析产品在通液条件下的温度跟随性；按照所确定的试验项目和试验条件，实施不通液条件下的可靠性强化试验，分析产品在不通液条件下的温度跟随性；对通液条件下的温度跟随性与不通液条件下的温度跟随性进行比较，根据比较结果判断是采用通液条件进行可靠性强化试验还是采用不通液条件进行可靠性强化试验。本发明能够有效提高液冷类产品可靠性强化试验的效率。
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公开(公告)号：CN118209298A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410242859.7
申请日：2024-03-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种性能测试方法、系统、计算机设备和存储介质。方法包括：获取待测试产品的测试指标，并根据测试指标对应的目标测试工具，构建测试指标对应的测试场景；其中，待测试产品为光电观瞄类产品；测试指标包括振动稳定精度、摇摆稳定精度、跟踪稳定精度、光轴稳定精度和激光照射精度中的至少一种；目标测试工具至少包括用于提供参考标记的平行光管及配套靶标；在测试场景中对待测试产品进行测试的过程中，获取待测试产品的测试数据和参考数据；根据测试数据和参考数据，确定测试指标对应的测试结果。上述方案，统一了对各项测试指标的测试方法，进而提高了测试指标测试结果的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111400920B
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202010207424.0
申请日：2020-03-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种产品关键故障模式识别方法，包括：将产品按组件的形式分解到最低约定层次单元；分析每个最低约定层次单元的所有可能发生的故障模式，得到产品的先验信息和后验信息；根据产品的先验信息和后验信息，分析每个故障模式对应的严酷度和发生频度；根据严酷度和发生频度进行综合影响分析，确定每个故障模式的综合影响等级；根据综合影响等级对故障模式进行筛选，识别出产品的关键故障模式。本发明的产品关键故障模式识别方法能够提高故障模式的分析精度，提升产品薄弱环节的定位效率。
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公开(公告)号：CN115238931A
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202211134200.7
申请日：2022-09-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及大数据技术领域，特别是涉及一种耗损件的规划方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：确定至少两个待维修设备对应的维修数据，维修数据包括各个待维修设备的故障概率和耗损件的参考消耗数量；基于维修数据，从至少两个待维修设备中确定目标设备，并根据目标设备和维修数据，确定耗损件满足率；基于耗损件满足率和预先设定的目标满足率，确定耗损件的目标规划量。本申请实现了对于损耗件的目标规划量的确定，弥补了现有技术中缺少损耗件预测方法的缺陷，实现了预测维修待维修设备时消耗耗损件的目标规划量，实现了对于损耗件对应目标规划量的快速确定，保证了确定损耗件的目标规划量的效率。
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公开(公告)号：CN114329989A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111660498.0
申请日：2021-12-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06Q10/06 , G06Q10/10 , G06Q50/04 , G06F111/10 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种产品通用质量特性设计与分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：获取产品使用需求信息；将每一被选中的通用质量特性类型下被选中的设计要求类型的设定数值与参考数值进行匹配，若匹配成功，则获取产品制造过程所需要执行的工作项目的项目信息；根据项目信息，模拟运行对应的产品制造过程，判断模拟运行得到的模拟运行数值是否覆盖每一被选中的通用质量特性类型下被选中的设计要求类型；若覆盖，则将模拟运行数值与对应的设定数值进行匹配；若匹配成功，则确定产品使用需求信息可行。通过充分识别产品的使用需求，并将使用需求转化为通用质量特性设计要求，能够全面地完成产品通用质量特性设计与分析。
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公开(公告)号：CN111400920A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010207424.0
申请日：2020-03-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种产品关键故障模式识别方法，包括：将产品按组件的形式分解到最低约定层次单元；分析每个最低约定层次单元的所有可能发生的故障模式，得到产品的先验信息和后验信息；根据产品的先验信息和后验信息，分析每个故障模式对应的严酷度和发生频度；根据严酷度和发生频度进行综合影响分析，确定每个故障模式的综合影响等级；根据综合影响等级对故障模式进行筛选，识别出产品的关键故障模式。本发明的产品关键故障模式识别方法能够提高故障模式的分析精度，提升产品薄弱环节的定位效率。
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公开(公告)号：CN111060297A
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201911241763.4
申请日：2019-12-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种强化试验设备、方法及装置。其中，强化试验设备包括处理器，以及连接处理器的第一电磁阀、调压设备和第二电磁阀；通过第一电磁阀控制导通或关闭储气罐和环境箱之间的气路通道，用于对存放在环境箱的待测样品施加压力。处理器在检测到环境箱的温度变化量达到预设值时，指示第一电磁阀导通储气罐和环境箱之间的气路通道，并通过调压设备调节环境箱的气压值，在检测到环境箱内的气压到达预设值时，以此降低环境箱内的气压。对待测样品同时施加温度应力和交变机械应力，可以更好的激发和暴露待测样品在设计中的薄弱部分，便于针对于薄弱部分进行改进，从而提高产品的可靠性。
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