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公开(公告)号：CN114564415A
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202210463052.7
申请日：2022-04-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F11/36 , G06F40/194
Abstract: 本申请涉及一种软件自主性评估方法、装置、设备、介质和程序产品。所述方法包括：从用户终端获取待评估的目标软件工具的文档信息和实物验证信息；实物验证信息包括目标用户对目标软件工具进行实物验证操作的相关信息；对文档信息进行审核处理得到文档审核结果，并对实物验证信息进行审核处理得到实物审核结果；根据文档审核结果和实物审核结果，生成目标软件工具的自主性评估结果；自主性评估结果用于指示目标软件工具是否具有自主性。采用本方法能够实现对软件工具的自主性进行客观准确的评估。
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公开(公告)号：CN114564415B
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202210463052.7
申请日：2022-04-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F11/36 , G06F40/194
Abstract: 本申请涉及一种软件自主性评估方法、装置、设备、介质和程序产品。所述方法包括：从用户终端获取待评估的目标软件工具的文档信息和实物验证信息；实物验证信息包括目标用户对目标软件工具进行实物验证操作的相关信息；对文档信息进行审核处理得到文档审核结果，并对实物验证信息进行审核处理得到实物审核结果；根据文档审核结果和实物审核结果，生成目标软件工具的自主性评估结果；自主性评估结果用于指示目标软件工具是否具有自主性。采用本方法能够实现对软件工具的自主性进行客观准确的评估。
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公开(公告)号：CN110515822A
公开(公告)日：2019-11-29
申请号：CN201910818726.9
申请日：2019-08-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种中断响应时间测试方法、装置、设备和存储介质。其中，中断响应时间测试方法包括向待测处理器和陪测器件同时输出中断激励信号；接收待测处理器反馈的本地时间，以及陪测器件反馈的当前时刻，并获取待测处理器读取本地时间的读操作时长；处理当前时刻、读操作时长和本地时间，得到待测处理器本次测试的中断响应时间。通过同时向待测处理器和陪测器件输出中断激励信号，使得待测处理器执行的中断动作和陪测器件清零或锁存当前时刻的动作可以进行，从而避免了动作不一致带来的误差，使得中断响应时间的测试更加准确。获取到待测处理器读取本地时间的读操作时长，从而得到待测处理器的中断响应时间更加精确。
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公开(公告)号：CN112508327B
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202011121546.4
申请日：2020-10-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06Q10/0635 , G06Q10/0639 , G06Q50/04
Abstract: 本申请涉及一种元器件技术状态变更评估方法，其包括：分析判断所述技术状态变更是否为编辑性变更；如果所述技术状态变更为编辑性变更，则评价判断所述技术状态变更是否可行；如果所述技术状态变更不为编辑性变更，则对所述技术状态变更进行风险评估；根据所述风险评估的结果，评价判断所述技术状态变更是否可行。本申请可以为元器件生产研制单位完成技术状态变更提供审核与验证，完善企业技术状态管理制度，协助企业控制成本，提升产品质量。
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公开(公告)号：CN108897524B
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN201810549219.5
申请日：2018-05-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F7/544
Abstract: 本申请涉及一种除法函数处理电路、方法、芯片以及系统，该除法函数处理电路包括：第一函数电路，用于获取待处理除法函数的变量值，并运行二阶函数处理模型以得到二阶函数值；第二函数电路，用于获取待处理除法函数的变量值，并运行二阶非线性插值函数处理模型以得到二阶非线性插值函数值；第一乘法器，用于获取二阶函数值与二阶非线性插值函数值的乘积，并将乘积作为待处理除法函数的结果值输出。通过利用二阶函数处理模型与二阶非线性插值函数处理模型来对待处理除法函数进行计算，从而可以对待处理除法函数进行高精度近似计算处理，此外，通过平方运算可以减少乘法器的使用，从而减少硬件资源消耗，降低计算成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114584143A
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202210484157.0
申请日：2022-05-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H03M1/10
Abstract: 本申请涉及一种模数转换器的动态寿命试验板和试验方法。该模数转换器的动态寿命试验包括：基板，以及设置于所述基板上的信号源电路；所述信号源电路的输出端，用于与置于所述动态寿命试验板的模数转换器的时钟信号端连接，以向所述模数转换器提供时钟信号；和/或，所述信号源电路的输出端，用于与置于所述动态寿命试验板的模数转换器的激励信号端连接，以向所述模数转换器提供激励信号。本申请实验板相对外界信号源体积小，成本低。
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公开(公告)号：CN108897524A
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201810549219.5
申请日：2018-05-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F7/544
CPC classification number: G06F7/544
Abstract: 本申请涉及一种除法函数处理电路、方法、芯片以及系统，该除法函数处理电路包括：第一函数电路，用于获取待处理除法函数的变量值，并运行二阶函数处理模型以得到二阶函数值；第二函数电路，用于获取待处理除法函数的变量值，并运行二阶非线性插值函数处理模型以得到二阶非线性插值函数值；第一乘法器，用于获取二阶函数值与二阶非线性插值函数值的乘积，并将乘积作为待处理除法函数的结果值输出。通过利用二阶函数处理模型与二阶非线性插值函数处理模型来对待处理除法函数进行计算，从而可以对待处理除法函数进行高精度近似计算处理，此外，通过平方运算可以减少乘法器的使用，从而减少硬件资源消耗，降低计算成本。
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公开(公告)号：CN110515822B
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN201910818726.9
申请日：2019-08-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种中断响应时间测试方法、装置、设备和存储介质。其中，中断响应时间测试方法包括向待测处理器和陪测器件同时输出中断激励信号；接收待测处理器反馈的本地时间，以及陪测器件反馈的当前时刻，并获取待测处理器读取本地时间的读操作时长；处理当前时刻、读操作时长和本地时间，得到待测处理器本次测试的中断响应时间。通过同时向待测处理器和陪测器件输出中断激励信号，使得待测处理器执行的中断动作和陪测器件清零或锁存当前时刻的动作可以进行，从而避免了动作不一致带来的误差，使得中断响应时间的测试更加准确。获取到待测处理器读取本地时间的读操作时长，从而得到待测处理器的中断响应时间更加精确。
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公开(公告)号：CN114584143B
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210484157.0
申请日：2022-05-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H03M1/10
Abstract: 本申请涉及一种模数转换器的动态寿命试验板和试验方法。该模数转换器的动态寿命试验包括：基板，以及设置于所述基板上的信号源电路；所述信号源电路的输出端，用于与置于所述动态寿命试验板的模数转换器的时钟信号端连接，以向所述模数转换器提供时钟信号；和/或，所述信号源电路的输出端，用于与置于所述动态寿命试验板的模数转换器的激励信号端连接，以向所述模数转换器提供激励信号。本申请实验板相对外界信号源体积小，成本低。
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公开(公告)号：CN113870231A
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202111163535.7
申请日：2021-09-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电子元器件的计数系统、方法、装置、计算机设备和存储介质。系统包括：计数平台、元器件容纳装置、屏蔽装置、图像采集装置、以及计算机设备。其中，屏蔽装置可拆卸地设置在计数平台上，围绕设置在元器件容纳装置的外部，并与计数平台形成闭合空间，以屏蔽环境光线；其中，屏蔽装置的一面设有开口，开口用于供元器件容纳装置的取出和放入。采用本方法能够实现自动对电子元器件进行精确、高效的计数。
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