Invention Grant
- Patent Title: 元器件技术状态变更评估方法
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Application No.: CN202011121546.4Application Date: 2020-10-20
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Publication No.: CN112508327BPublication Date: 2024-03-26
- Inventor: 支越 , 罗宏伟 , 周帅 , 马凌志 , 王斌 , 江凯
- Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Applicant Address: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- Assignee: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Current Assignee: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Current Assignee Address: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- Agency: 华进联合专利商标代理有限公司
- Agent 郭凤杰
- Main IPC: G06Q10/0635
- IPC: G06Q10/0635 ; G06Q10/0639 ; G06Q50/04
Abstract:
本申请涉及一种元器件技术状态变更评估方法，其包括：分析判断所述技术状态变更是否为编辑性变更；如果所述技术状态变更为编辑性变更，则评价判断所述技术状态变更是否可行；如果所述技术状态变更不为编辑性变更，则对所述技术状态变更进行风险评估；根据所述风险评估的结果，评价判断所述技术状态变更是否可行。本申请可以为元器件生产研制单位完成技术状态变更提供审核与验证，完善企业技术状态管理制度，协助企业控制成本，提升产品质量。
Public/Granted literature
- CN112508327A 元器件技术状态变更评估方法 Public/Granted day:2021-03-16
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