公开(公告)号：CN120012761A

公开(公告)日：2025-05-16

申请号：CN202510503631.3

申请日：2025-04-22

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 韩丞智 ,  聂国健 ,  翟芳 ,  方亮 ,  鞠伟 ,  曹浩龙 ,  刘磊 ,  王春红

IPC: G06F40/205 ,  G06F40/169 ,  G06F40/295 ,  G06N3/0442 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/08 ,  G06N5/022 ,  G06F16/35

Abstract: 本发明公开了一种基于知识图谱的辅助投标方法，属于辅助投标技术领域，包括以下步骤：S1、通过爬虫抓取招标文本，并对招标文本进行预处理；S2、序列标注：构建引入注意力机制的BERT‑BILSTM‑CRF融合模型，并利用构建的引入注意力机制的BERT‑BILSTM‑CRF融合模型提取招标文本的命名实体；S3、关系分类：构建BiGRU‑注意力关系分类模型，并利用构建的BiGRU‑注意力关系分类模型对命名实体进行关系预测；S4、根据关系分类结果，将命名实体和关系进行组合，得到有效实体，并存储至数据库。采用上述基于知识图谱的辅助投标方法，可抓取招标文件中的重要信息，便于后续的报价和投标书的撰写。

公开(公告)号：CN112730440A

公开(公告)日：2021-04-30

申请号：CN202011594022.7

申请日：2020-12-29

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 吕宏峰 ,  王小强 ,  罗军 ,  刘磊

IPC: G01N21/88

Abstract: 本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开了一种电子元器件外壳缺陷检测方法及系统。所述方法包括将待测电子元器件移动至检测区域，获取所述电子元器件的第一表面图像信息；使所述电子元器件旋转预设角度，获取所述电子元器件的第二表面图像信息；根据所述第一表面图像信息和所述第二表面图像信息判断所述电子元器件是否存在表面缺陷。分别对电子元器件外壳上下表面是否存在表面缺陷进行判断。通过获取电子元器件的表面图像信息，同时在多重算法的协助下，对电子元器件表面是否存在缺陷进行判断，减少人为的参与程度和主观性，使检测更加客观，极大的提高了检测效率和精度，可以长时间连续工作，从而满足高强度任务需求。