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公开(公告)号：CN114252029A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202111174773.8
申请日：2021-10-09
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明涉及平晶测量领域，具体涉及一种在平面度地形图中修正标准平晶平面度的测量方法，用于在卧式干涉仪中对平晶组进行多点测量，平晶组包括四块以上平晶，每个平晶沿中心点均匀划分为N个待测截面，每个待测截面上选取除中心点外的M个测量点，按以下步骤进行测量：步骤S1，取平晶组中的任意两块平晶分别标记为平晶A和平晶B，将平晶A和平晶B放置于卧式干涉仪上，且工作面相对放置，将平晶A上的N个待测截面中离中心点最远的测量点按顺时针方向进行编号。……步骤S6，在平晶组多块块平晶分别取得各截面直线度平均结果和各截面端点的共面度平均值后，将各截面直线度偏差叠加在共面度的相应点上，即可得到每块平晶的多截面平面度偏差。
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公开(公告)号：CN111998690B
公开(公告)日：2021-05-25
申请号：CN202010859887.5
申请日：2020-08-24
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种低温窑炉排烟风机的故障报警方法，涉及低温窑炉技术领域，包括以下步骤，当压差值无法稳定在设定值时，控制模块将自动检测差压传感器是否正常，若差压传感器故障，控制模块在发出声光报警的同时，自动切换到排烟风机工频运行状态；当差压传感器无故障时，将自动检测排烟风机电机是否正常，由于控制模块留有数据通信接口，可与低温窑炉温度控制燃烧系统的紧急停机功能关联，若排烟风机电机损坏，控制模块在发出声光报警的同时，可紧急停止燃烧器工作，以免排烟不畅，低温窑炉发生爆炸；当排烟风机电机正常时，控制模块将重新检测排烟温度是否低于设定温度。该系统故障自检完成后，将恢复到自动运行状态。
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公开(公告)号：CN111998690A
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN202010859887.5
申请日：2020-08-24
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种低温窑炉排烟风机的故障报警方法，涉及低温窑炉技术领域，包括以下步骤，当压差值无法稳定在设定值时，控制模块将自动检测差压传感器是否正常，若差压传感器故障，控制模块在发出声光报警的同时，自动切换到排烟风机工频运行状态；当差压传感器无故障时，将自动检测排烟风机电机是否正常，由于控制模块留有数据通信接口，可与低温窑炉温度控制燃烧系统的紧急停机功能关联，若排烟风机电机损坏，控制模块在发出声光报警的同时，可紧急停止燃烧器工作，以免排烟不畅，低温窑炉发生爆炸；当排烟风机电机正常时，控制模块将重新检测排烟温度是否低于设定温度。该系统故障自检完成后，将恢复到自动运行状态。
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公开(公告)号：CN110595351A
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201910879698.1
申请日：2019-09-18
Abstract: 本发明公开了一种具有标准具的白光干涉仪的量值测量方法，其测量步骤为：在白光干涉仪的光路中分光光路前增加通光孔径相同平行光路系统，并在其中放置标准具；调整干涉仪的干涉条纹，将干涉仪两个相干光路调整到完全垂直；调整使两相干光自分光点至两参考镜的距离相等，出现白光零次干涉带；通过参考镜和量块工作台的调整，达到钢平晶上的干涉带平行于被测量块短边，并且被测量块上的零次干涉带通过被测量块中部的中点；测出钢平晶上的零次干涉带与被测量块中心点上零次干涉带的距离并修正。本发明方法提高了量块测量精度，不会产生粗大误差，提高测量效率，不磨损，寿命长，易于实现测量的自动化与半自动化，可以进行许多精密测量。
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公开(公告)号：CN109405768A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811581937.7
申请日：2018-12-24
Applicant: 中国测试技术研究院光学研究所
Abstract: 本发明涉及一种医用内窥镜的视角测量装置及测量方法，该测量装置包括转台支架和标靶支架，所述转台支架的内部或侧壁设置有带竖直角度盘的竖直角转台，竖直角转台的顶部设置有带水平角度盘的水平角转台，水平角转台上设置有用于安装内窥镜探头的夹具，内窥镜探头的前方设置有镜前十字丝；所述标靶支架顶部设置有经纬线标靶，经纬线标靶包括经线、纬线、经线标尺、纬线标尺、经线移动调节手轮和纬线移动调节手轮。使用本发明测量装置能适用于软性和硬性内窥镜视场角、视向角测量，可使用经纬线标靶与竖直角转台互为测量基准，校验角度的准确性，且测量过程简单。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114252029B
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202111174773.8
申请日：2021-10-09
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明涉及平晶测量领域，具体涉及一种在平面度地形图中修正标准平晶平面度的测量方法，用于在卧式干涉仪中对平晶组进行多点测量，平晶组包括四块以上平晶，每个平晶沿中心点均匀划分为N个待测截面，每个待测截面上选取除中心点外的M个测量点，按以下步骤进行测量：步骤S1，取平晶组中的任意两块平晶分别标记为平晶A和平晶B，将平晶A和平晶B放置于卧式干涉仪上，且工作面相对放置，将平晶A上的N个待测截面中离中心点最远的测量点按顺时针方向进行编号。……步骤S6，在平晶组多块块平晶分别取得各截面直线度平均结果和各截面端点的共面度平均值后，将各截面直线度偏差叠加在共面度的相应点上，即可得到每块平晶的多截面平面度偏差。
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公开(公告)号：CN113916124A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202111174526.8
申请日：2021-10-09
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
IPC: G01B9/02015 , G01B9/02055 , G01B11/30
Abstract: 本发明涉及干涉仪领域，具体涉及具有管状基准照明系统的菲索干涉仪及管状基准照明系统用于移相技术，包括菲索干涉仪本体和管状基准照明系统，管状基准照明系统设置于索菲干涉仪本体的光源和第二光栏之间，光源为白光+第一干涉滤光片或白光+单色光。管状基准照明系统包括第一光栏、第一物镜、第一镀银小平晶、第一管状基准主体、第二镀银小平晶和第二物镜，第一管状基准主体的一端和第一镀银小平晶光胶或胶结，另一端和第二镀银小平晶光胶或胶结，第一光栏和第一物镜通过第一支架固定于第一管状基准主体和第一镀银小平晶相连的一侧，第二物镜通过第二支架固定于第一管状基准主体的另一侧，第一光栏位于第一物镜的焦面上。
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公开(公告)号：CN112945867A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110148477.4
申请日：2021-02-03
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种反射式灰阶测试卡测量系统及方法，包括光源系统、准直系统、转角系统和接收器，所述准直系统为光轨，所述光源系统和样品架设置在光轨上，并在一条直线上，且光源系统与样品架之间设置有光阑；所述转角系统45/0几何测量条件的转角平台，用于控制测量壁和样品架旋转；所述接收器为安装在测量壁上的光谱分光辐射度计；在卤素灯周围加装平行光管做光源，采用双轴步进电机和基于PCI接口的微机机内置式PCI试验卡，实现45/0转角系统的自动控制；用已知标准值的标准白板做标准，用相对测量的方法，实现反射式光密度的无接触测量。
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公开(公告)号：CN110595351B
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN201910879698.1
申请日：2019-09-18
Abstract: 本发明公开了一种具有标准具的白光干涉仪的量值测量方法，其测量步骤为：在白光干涉仪的光路中分光光路前增加通光孔径相同平行光路系统，并在其中放置标准具；调整干涉仪的干涉条纹，将干涉仪两个相干光路调整到完全垂直；调整使两相干光自分光点至两参考镜的距离相等，出现白光零次干涉带；通过参考镜和量块工作台的调整，达到钢平晶上的干涉带平行于被测量块短边，并且被测量块上的零次干涉带通过被测量块中部的中点；测出钢平晶上的零次干涉带与被测量块中心点上零次干涉带的距离并修正。本发明方法提高了量块测量精度，不会产生粗大误差，提高测量效率，不磨损，寿命长，易于实现测量的自动化与半自动化，可以进行许多精密测量。
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公开(公告)号：CN119509377A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411524637.0
申请日：2024-10-30
Applicant: 中国测试技术研究院
IPC: G01B11/03 , G01B11/02 , G06T7/62 , G06T7/187 , G06T7/13 , G06T7/80 , G06T5/50 , G06N3/045 , G06N3/084
Abstract: 本发明公开了基于激光技术的高精度长度测量方法及系统，包括获取激光测量的工作数据和状态数据，根据所述激光扫描数据计算激光边缘坐标、第一激光测量长度和测距尺度，处理所述相机图像获得像素边缘坐标，匹配所述像素边缘坐标和所述激光边缘坐标获得第一边缘坐标，融合所述第一边缘坐标和所述第二激光测量长度得到激光图像长度，根据所述综合测量长度、所述测距尺度、所述传输影响因子和所述第一边缘坐标构建高精度长度测量模型，将待测量工作数据和状态数据输入所述高精度长度测量模型获得测量长度。该方法不仅可以提高激光长度测量的精度，同时具有较好的可解释性，可以直接应用于基于激光技术的高精度长度测量系统中。
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