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公开(公告)号：CN116359130A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202310236826.7
申请日：2023-03-13
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种光学计量检定用样品轮，包括支撑机构、旋转机构、平移机构和控制单元；支撑机构包括基座、样品轮支架和样品轮；样品轮支架底部固定于基座上，样品轮通过转轴设置于样品轮支架上方；样品轮的外缘设置多个样品室，样品室内设有样品固定装置；旋转机构包括步进电机，步进电机带动样品轮转动；平移机构包括液压装置和滑轨；液压装置的液压杆，一端铰接于基座上，另一端通过套管设置于转轴上，由控制单元控制其伸缩；套管和转轴之间装有轴承，轴承两端装有齿轮；滑轨底部嵌入样品轮支架顶部的水平滑槽内，顶部沿滑动方向设有与齿轮啮合的齿条。本发明能够避免人工更换样品对测量结果的影响，避免样品测量位置对测量结果的影响，工作效率高，测量数据准确。
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公开(公告)号：CN114941988A
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202210618809.5
申请日：2022-06-01
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种用于校准三维光学测量系统的便携式球杆组合装置，包括支撑结构、多个第二夹具和多个校准球杆；支撑结构为三角支撑，包括支架以及安装在支架顶部的第一夹具，其中一校准球杆竖直安装在第一夹具内，其沿长度方向设置有多个第二夹具，剩余的校准球杆通过第二夹具安装在竖直安装的校准球杆上。本发明的便携式球杆组合装置装拆方便，可以提高便携式球杆组合装置的安装效率；并且将其中一校准球杆作为其余校准球杆的支撑，可以提供不同距离的校准尺寸，增加了校准的灵活性，测量光线不受遮挡，提高了测量结果的准确性。
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公开(公告)号：CN114370817A
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202210033918.0
申请日：2022-01-12
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于校准球杆仪的装置及方法，能够减小了测量误差，提高校准的数据样本空间量，实现多种不同长度球杆仪的精确校准。该装置包括：基准平台，以及在基准平台顶面沿着第一方向依次设置的激光干涉仪、第一镜组、导轨、移动平台、第二镜组、控制箱、第一安装组、第二安装组；第一镜组和第二安装组在第一方向上相对于基准平台固定设置；第二镜组和第一安装组在第一方向上相对于移动平台固定设置；第一镜组、第二镜组、第一安装组和第二安装组均设置为可以沿着第二方向移动并在移动到设定位置后固定，以使得第一安装杯、第二安装杯、第一镜组的分光镜、以及第二镜组的反射镜位于激光干涉仪发出激光的同一直线光路上。
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公开(公告)号：CN112945867A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110148477.4
申请日：2021-02-03
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种反射式灰阶测试卡测量系统及方法，包括光源系统、准直系统、转角系统和接收器，所述准直系统为光轨，所述光源系统和样品架设置在光轨上，并在一条直线上，且光源系统与样品架之间设置有光阑；所述转角系统45/0几何测量条件的转角平台，用于控制测量壁和样品架旋转；所述接收器为安装在测量壁上的光谱分光辐射度计；在卤素灯周围加装平行光管做光源，采用双轴步进电机和基于PCI接口的微机机内置式PCI试验卡，实现45/0转角系统的自动控制；用已知标准值的标准白板做标准，用相对测量的方法，实现反射式光密度的无接触测量。
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公开(公告)号：CN118604790A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202411060436.X
申请日：2024-08-05
Applicant: 中国测试技术研究院
IPC: G01S7/497
Abstract: 本发明公开了一种SLAM三维激光扫描仪校准系统及校准方法，能够快速对SLAM三维激光扫描仪进行高精度、多参数校准，减小校准难度；校准系统包括校准场地、特征物、基准点模块、标准器、待校SLAM三维激光扫描仪、扫描点云解算及预处理模块、扫描点云预览模块以及数据分析模块；校准方法包括在校准场地上规划用于校准扫描的路径；确定出路径两侧的基准点位置；在路径两侧的地面上分别设置形状规则的图案、特征物和基准点；分别获取图案、特征物以及基准点的测量结果；待校SLAM三维激光扫描仪采集扫描点云数据；扫描点云数据解算，得到解算点云数据；解算点云数据处理，获得待校SLAM三维激光扫描仪的对应参数的测量结果以及对测量结果分析等步骤。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114815012B
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202210618816.5
申请日：2022-06-01
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于数字微透镜器件的多聚焦透镜阵列制作方法，涉及光刻技术领域；制作过程包括以下步骤，步骤一：准备制作多聚焦透镜阵列的灰度图，并将灰度图写入到DMD中；步骤二：根据写入到DMD中的多聚焦透镜阵列灰度图，对硅片曝光，将多聚焦透镜阵列写入到硅片上，并且将曝光后的光刻胶显影；步骤三：将写入到硅片上的微透镜阵列烘烤定型；步骤四：采用PDMS膜在硅片上倒模；步骤五：将倒模后的多聚焦透镜阵列烘烤成型；步骤六：对制作的多聚焦透镜阵列进行光学分析，判断其是否合格。本发明的多聚焦透镜阵列制作方法的制作工艺简单、效率高、成本低，采用数字编码灰度掩膜，避免了掩膜的对准误差，提高了多聚焦透镜阵列的
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公开(公告)号：CN116223381A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310236751.2
申请日：2023-03-13
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种多样品轮控制系统和控制方法，系统包括压力传感器、平移模块、旋转模块、检测模块和控制模块；首先检测样品轮是否为初始零位，其次检测样品架是否为空，然后测量色度测量仪器测量口和样品表面的距离，根据该距离控制样品轮前移使样品紧贴测量口并判断是否漏光，再次控制模块通过用户的需求启动相应的检测功能模块，最后所有样品检测完成后控制模块控制样品轮后移，再控制样品轮旋转至第二个样品，依次重复以上操作，直至完成所有样品检测任务。本发明大大提高了工作效率，提高了测量数据的准确性，实现了整个检定装置自动化的需求。
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公开(公告)号：CN115406831A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202211048385.X
申请日：2022-08-30
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种快速结构光数字全息测量系统及方法，涉及微纳检测技术领域；本发明采用经过偏振调制的结构光照射待测物体后成为物光，物光与参考光合束后入射到偏振分光元件中，经偏振分光元件后形成多幅结构光数字全息图，结构光数字全息图由光电探测器采集，光电探测器单次曝光就可实现两幅带有固定相移的结构光全息图的同步采集；本发明的测量方法在测量过程中引入了空间相移，消除了时间相移步骤，使整体采集效率提升一倍，提高了测量的实时性。
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公开(公告)号：CN108051236A
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201810092675.1
申请日：2018-01-31
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开一种大长度基线，包括地基、导轨平台和直线导轨，若干个导轨平台沿直线拼接并通过设置在导轨平台底部的升降支撑安装在地基上，导轨平台在其拼接方向的左右侧壁上设置了凸起的定位块，地基上在导轨平台拼接方向的左右侧设置了定位板，定位板上开设了供定位块插入的定位槽，在定位槽的沿导轨平台拼接方向的两侧壁、竖直方向的顶侧壁以及沿横向并垂直于导轨平台拼接方向的壁面上开设了定位螺孔，若干根直线导轨沿着导轨平台的拼接方向拼接铺设在导轨平台的顶面。本发明采用导轨系统取代传统的观察墩，有效提高测量效率，可实现全程自动化测量，降低测量过程劳动强度，通过干涉仪测定标准值，有效提高检定、校准的精度。
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公开(公告)号：CN115127480B
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202210410243.7
申请日：2022-04-19
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种空间相移的结构光超分辨成像系统及方法，该系统通过将两束偏振方向相互正交的线偏振光束相干叠加，形成结构光照明待测物体，结构光被非偏振分光棱镜分光后，通过不同角度的第一偏振片、第二偏振片和第三偏振片分别被对应的第一图像传感器、第二图像传感器和第三图像传感器接收；该系统利用相干光的偏振特性产生空间相移，通过三个图像传感器同时采集到三幅图像信息，极大地压缩了系统图像采集的时间，为提升结构光超分辨系统的成像效率和处理速度提供了新的解决思路。
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